[发明专利]磁浮F轨左右偏移检测装置和方法

权利要求书

1.磁浮F轨左右偏移检测装置，其特征在于：包括骨架、用于吸附磁浮F轨的磁铁和能够伸缩的测距仪本体；其中

所述骨架包括定位块、横杆和竖杆，横杆的一端连接定位块，另一端连接竖杆；所述竖杆用于固定能够伸缩的测距仪本体；所述骨架的形状与磁浮F轨相匹配；

所述定位块包括竖直方向上设置的通孔、顶盖、定位柱、弹簧；所述通孔的上开口设置有顶盖，下开口边缘横向设置有环状挡板，其中通孔横截面的直径为D1，环状挡板中空处的直径为D2；所述定位柱的下部部分穿过环形挡板，定位柱的横截面直径从上到下依次线性变小，定位柱的横截面直径最大值为D3，最小值为D4；同时满足D1＞D3＞D2＞D4；所述弹簧处于非拉伸状态，其上端与顶盖接触，下端与定位柱的顶部接触；

所述磁铁设置在骨架的下部。

2.根据权利要求1所述的磁浮F轨左右偏移检测装置，其特征在于：所述定位柱为锥形定位柱，锥形定位柱的顶部开有一个凹槽，弹簧的底部置于凹槽中。

3.根据权利要求1所述的磁浮F轨左右偏移检测装置，其特征在于，所述测距仪本体为千分表；所述千分表包括轴套、刻度盘和伸缩的触头；

所述轴套穿过竖杆，所述触头的一端设置在轴套内。

4.根据权利要求1所述的磁浮F轨左右偏移检测装置，其特征在于，还包括：嵌套；

所述嵌套设置在通孔内壁和定位柱的上端之间。

5.根据权利要求1所述的磁浮F轨左右偏移检测装置，其特征在于，所述磁铁设置在通孔下开口附近。

6.磁浮F轨左右偏移检测方法，其特征在于，包括：

S11，将定位块贴合在待检测磁浮F轨上，且定位柱伸入到待检测磁浮F轨的定位孔内，竖杆放置在待检测磁浮F轨的侧壁外；

S12，转动千分表使触头伸长至待检测磁浮F轨的外侧壁，读取千分表的读数X1；

S13，将读数X1和预先读取的标定读数X进行比较，得到位置偏差△X；

S14，根据所述位置偏差△X修正待检测磁浮F轨的定位孔的位置。

7.根据权利要求6所述的磁浮F轨左右偏移检测方法，其特征在于，预先读取标定读数X包括：

S21，将定位块贴合在标准检测磁浮F轨上，且定位柱伸入到标准检测磁浮F轨的定位孔内，竖杆放置在标准磁浮F轨的侧壁外；

S22，转动千分表使触头伸长至标准磁浮F轨的外侧壁，读取千分表的标定读数X。

8.根据权利要求6所述的磁浮F轨左右偏移检测方法，其特征在于，所述位置偏差△X＝X1-X。

9.根据权利要求8所述的磁浮F轨左右偏移检测方法，其特征在于，所述根据所述位置偏差△X修正待检测磁浮F轨的定位孔的位置包括：

若位置偏差△X大于零，待检测磁浮F轨的定位孔右偏，则将检测磁浮F轨的定位孔左移△X；

若位置偏差△X小于零，待检测磁浮F轨的定位孔左偏，则将检测磁浮F轨的定位孔右移|△X|。