[发明专利]一种校准装置

说明书

本发明公开一种校准装置，所述装置包括：可发射微波的发射装置，以及与所述发射装置配合的接收装置，接收装置包括探头组件，用于检测所述接收装置附近的场强；第一天线组件，用于接收所述微波；以及第一调节组件，第一调节组件与所述天线组件结合，当所述探头组件工作时，所述第一调节组件使所述天线组件向远离所述探头组件的方向移动至预设位置。本发明通过设置探头组件和第一天线组件，既可以用来对微波天线的天线系数、方向图、轴比进行校准，还可以对场强探头的频率响应、三轴等参数进行校准。通过设置第一调节组件，从而使得探头组件工作时，可以将天线组件移开，从而避免第一天线组件对探头组件造成干扰，能够一体化校准。

技术领域

本发明涉及电子测试技术领域。更具体地，涉及一种校准装置。

背景技术

天线是任何无线电通信系统都离不开的重要前端器件，其本身的质量直接影响着无线电系统的整体性能。如何保证天线始终能够满足使用要求就需要定期对天线进行校准。

场强是无线电的基本参数之一，场强参数的校准精度直接影响场强测量结果的准确性。目前，无论民用领域还是军用领域对场强参数的测量和计量需求均十分普遍，其量值传递意义极其重要。国务院文件＜国发(1987)31号＞《中华人民共和国强制检定的工作计量器具检定管理办法》中将场强探头定为强制检定的工作计量器具。

国内外具备微波天线和场强探头校准能力的机构有NPL(英国国家物理实验室)、NIST(美国国家标准技术研究所)、中国计量院和国防第二计量测试研究中心等，因为天线和场强探头的校准是截然不同的两个参数校准，所以长期以来上述机构的天线和场强探头的校准装置相对独立。微波天线和场强探头的校准场地均为微波暗室，两者占用较大的空间和资源，造成浪费。

发明内容

为解决上述问题的至少一个，本发明采用下述技术方案：

一种校准装置，其设于微波暗室内，所述装置包括：

可发射微波的发射装置，以及与所述发射装置配合的接收装置；

所述接收装置包括：

探头组件，用于检测所述接收装置附近的场强；

第一天线组件，用于接收所述微波；以及

第一调节组件，与所述天线组件结合，当所述探头组件工作时，所述调节组件使所述天线组件向远离所述探头组件的方向移动至预设位置。

优选地，所述发射装置包括：

第一支撑支架；

位于所述第一支撑支架上方的第二天线组件，用于发射所述微波；

固定于第一支撑架和所述第二天线组件之间的第二调节组件，所述第二调节组件使所述第二天线组件沿水平X轴方向移动。

优选地，所述第二天线组件包括：

第一支撑板；

固定于所述第一支撑板沿水平X轴方向相对设置的两个位于所述第一支撑板边缘的第一支撑部；

贯穿该两个支撑部并可在其贯穿形成的孔道内转动的第一丝杠；

位于于所述第一丝杠上并可随第一丝杆转动而沿水平X轴滑动的第一台面；

第一天线工装，位于所述第一台面。

优选地，所述第二调节组件包括：

固定于所述第一支撑支架上的第一升降机，所述第一升降机使所述第二天线组件沿竖直Z轴滑动。

优选地，所述第一天线组件包括：

第二支撑板；