[发明专利]基于发光设备的地图纠正方法及装置

权利要求书

1.一种基于发光设备的地图纠正方法，其特征在于，包括：

标定步骤：将可移动设备移动到地图的第一位置R1时记录任两个发光设备直接发射出来的光点标志中心直接发射到CCD/CMOS上的第一像素点位置A1和第二像素点位置A2,从而得到每一像素点对应的地图坐标系距离为(A2-A1)/L,其中，(A2-A1)表示A2和A1之间的像素点数量,L表示为所述两个发光设备之间的地图坐标系上的距离；记录可移动设备在第一位置R1时地图坐标值以及两个发光设备对应的标志中心直接发射到CCD/CMOS上的两个像素坐标值，并记录第一像素点位置A1和第二像素点位置A2之间的夹角α1；

纠正步骤：在构建地图后的任何时刻需要对地图进行纠正时，将可移动设备移动到所述第一位置R1，记录所述两个发光设备直接发射出来的光点标志中心直接发射到CCD/CMOS上的第三像素点位置A3和第四像素点位置A4，从而得到可移动设备在地图坐标系的偏离距离L差＝(A3-A1)*(A2-A1)/L；并记录第三像素点位置A3和第四像素点位置A4之间的夹角α2，从而得到可移动设备在地图坐标系的偏离角度α差＝α2-α1；并根据所述偏离距离L差以及偏离角度α差对构建的地图上的坐标值进行纠正。

2.如权利要求1所述的地图纠正方法，其特征在于，所述夹角α1和夹角α2通过以下计算公式得到：

α1＝arctan(y1/x1)；

α2＝arctan(y2/x2)；

其中x1、y1分别为第一像素点位置A1和第二像素点位置A2之间构成的线段在CCD/CMOS的X轴上的像素差值、Y轴上像素点的差值；

其中x2、y2分别为第三像素点位置A3和第四像素点位置A4之间构成的线段在CCD/CMOS的X轴上的像素差值、Y轴上的像素差值。

3.如权利要求1所述的地图纠正方法，其特征在于，所述可移动设备为机器人。

4.如权利要求1所述的地图纠正方法，其特征在于，所述发光设备为LED光源、激光光源或红外光源。

5.一种基于发光设备的地图纠正方法，其特征在于，包括：

将可移动设备移动到通过初始标定得到的参考坐标点上，记录任两个发光设备直接发射出来的光点标志中心到CCD/CMOS上的第三像素点位置A3和第四像素点位置A4，基于初始标定得到的每一像素点对应的地图坐标系距离L’以及第三像素点位置A3与初始标定的所对应的第一像素点位置A1的像素差，得到可移动设备在地图坐标系的偏离距离L差＝(A3-A1)*L’；

记录第三像素点位置A3和第四像素点位置A4之间的夹角α2，基于初始标定记录的第一像素点位置A1和第二像素点位置A2之间的夹角α1，得到可移动设备在地图坐标系的偏离角度α差＝α2-α1；

根据所述偏离距离L差以及偏离角度α差对构建的地图上的坐标值进行纠正。

6.如权利要求5所述的地图纠正方法，其特征在于，所述初始标定过程如下：

将可移动设备移动到地图的第一位置R1时记录任两个发光设备直接发射出来的光点标志中心直接发射到CCD/CMOS上的第一像素点位置A1和第二像素点位置A2；

计算每一像素点对应的地图坐标系距离L’＝(A2-A1)/L,其中，(A2-A1)表示A2和A1之间的像素点数量,L表示为所述两个发光设备之间的地图坐标系上的距离；

记录可移动设备在第一位置R1时地图坐标值以及两个发光设备对应的标志中心直接发射到CCD/CMOS上的两个像素坐标值，并记录第一像素点位置A1和第二像素点位置A2之间的夹角α1。

7.如权利要求5或6所述的地图纠正方法，其特征在于，所述夹角α1和夹角α2通过以下计算公式得到：

α1＝arctan(y1/x1)；

α2＝arctan(y2/x2)；

其中x1、y1分别为第一像素点位置A1和第二像素点位置A2之间构成的线段在CCD/CMOS的X轴上的像素差值、Y轴上像素点的差值；

其中x2、y2分别为第三像素点位置A3和第四像素点位置A4之间构成的线段在CCD/CMOS的X轴上的像素差值、Y轴上的像素差值。