[发明专利]一种终端天线的测试装置

说明书

本公开关于一种终端天线的测试装置，属于天线技术领域。该测试装置包括：屏蔽箱、至少两个天线、至少一个相位控制模块和测试模块；至少两个天线中的任意两个天线之间的工作频段存在部分重叠；至少两个天线和至少一个相位控制模块位于屏蔽箱内；测试模块位于屏蔽箱外，测试模块与至少两个天线连接；任意两个天线之间设置有一个相位控制模块。任意两个天线用于分别接收位于屏蔽箱内的任意位置的待测终端发射的第一信号；相位控制模块用于分别接收任意两个天线发送的第一信号，并进行天线波束合成操作得到待测终端的位置信息和第二信号；测试模块用于对待测终端在重叠的工作频段下进行天线性能测试。本公开实施例测试过程简捷方便、且测试精度高。

技术领域

本公开涉及天线技术领域，尤其涉及一种终端天线的测试装置。

背景技术

随着社会的快速发展以及生活水平的提高，时下用户对终端的使用性能要求越来越高，而由于终端天线性能的优劣会直接影响终端的使用性能，因此目前通常采用测试装置来对终端天线在不同频段内的性能进行耦合测试。

相关技术常采用如图1所示的测试装置对终端天线进行耦合测试，该测试装置包括：屏蔽箱、一个工作在多个频段的天线和一个测试仪。其中，在利用该装置对待测终端的天线性能进行测试之前，还需要额外准备一个设备(称之为金机)，通过将金机放置在屏蔽箱中的不同位置进行天线测试，以在屏蔽箱中确定用于放置待测终端的最佳位置，以及确定该最佳位置处的线损和空间损耗。在利用该测试装置进行测试时，先将待测终端放置于上述最佳位置，之后分别对终端天线在不同频段内的性能进行测试，在完成测试后，再由天线将测试结果发送至测试仪，测试仪基于该测试结果、上述线损和空间损耗判断该终端天线的性能是否满足需求。

在确定最佳位置时，金机需要进行反复多次调试，过程繁琐且耗时较长；另外，在测试仪器的工作环境发生变化后，最佳位置随之会发生改变，若继续基于初始确定的最佳位置处的线损和空间损耗进行天线性能测试，会导致测试精度大幅降低。

发明内容

本公开提供了一种终端天线的测试装置，能够解决相关技术中存在的确定最佳位置时，金机需要进行反复多次调试，过程繁琐且耗时较长；另外，在测试仪器的工作环境发生变化后，最佳位置随之会发生改变，若继续基于初始确定的最佳位置处的线损和空间损耗进行天线性能测试，会导致测试精度大幅降低的问题。所述技术方案如下：

本公开提供了一种终端天线的测试装置，所述测试装置包括：屏蔽箱、至少两个天线、至少一个相位控制模块和测试模块；

所述至少两个天线中的任意两个天线之间的工作频段存在部分重叠；

所述至少两个天线和所述至少一个相位控制模块位于所述屏蔽箱内；

所述测试模块位于所述屏蔽箱外，所述测试模块与所述至少两个天线连接；

所述任意两个天线之间设置有一个所述相位控制模块，所述任意两个天线用于分别接收所述待测终端发射的第一信号，所述待测终端位于所述屏蔽箱内的任意位置，所述第一信号的频率位于所述任意两个天线之间重叠的工作频段；

所述相位控制模块用于分别接收所述任意两个天线发送的所述第一信号，以及对接收到的两个所述第一信号进行天线波束合成操作，得到所述待测终端的位置信息和第二信号；

所述测试模块用于接收所述相位控制模块发送的所述位置信息和所述第二信号，并根据所述位置信息和所述第二信号，对所述待测终端在所述重叠的工作频段下进行天线性能测试。

在另一个可能的实施方式中，所述至少两个天线的工作频段覆盖第二代移动通信技术2G频段、第三代移动通信技术3G频段、第四代移动通信技术4G频段以及第五代移动通信技术5G频段；