[发明专利]测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备

权利要求书

1.一种测试程序生成方法，所述测试程序用于对存储器进行功能测试，其特征在于，所述方法包括：

获取待测试的所述存储器的配置信息，并获取针对所述存储器的测试任务信息以及所述存储器的历史测试记录；

基于所述测试任务信息和所述历史测试记录生成针对所述存储器的测试逻辑；

根据所述测试逻辑从预设的测试程序组件库中获取至少一种测试程序组件；

对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序，其中，多个所述测试程序组件的组合顺序与时序条件有关，所述时序条件包括在所述测试逻辑中。

2.根据权利要求1所述的测试程序生成方法，其特征在于，对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序，包括：

根据所述配置信息确定所述存储器中的多个待测试的存储单元；

根据所述测试逻辑确定所述测试程序组件与所述存储单元的匹配关系；

基于所述匹配关系对各个所述测试程序组件进行参数配置；

对经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序。

3.根据权利要求2所述的测试程序生成方法，其特征在于，对经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序，包括：

根据所述测试逻辑确定各个所述存储单元的测试类型以及各个所述测试类型的测试顺序；

基于所述测试类型和所述测试顺序确定经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件的排列顺序；

按照所述排列顺序对多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序。

4.根据权利要求1所述的测试程序生成方法，其特征在于，对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序，包括：

根据所述配置信息确定所述存储器中的多个存储通道以及所述存储通道中的多个待测试的存储单元；

根据所述测试逻辑确定所述测试程序组件与每个所述存储通道中的所述存储单元的匹配关系；

基于所述匹配关系对各个所述测试程序组件进行参数配置；

对经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到与各个所述存储通道相对应的通道测试子程序；

对多个所述通道测试子程序进行组合以得到所述测试程序。

5.根据权利要求4所述的测试程序生成方法，其特征在于，对经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到与各个所述存储通道相对应的通道测试子程序，包括：

根据所述测试逻辑确定每个所述存储通道中的各个所述存储单元的测试类型以及各个所述测试类型的测试顺序；

基于所述测试类型和所述测试顺序确定与各个所述存储通道相对应的经过所述参数配置后的多个所述测试程序组件的排列顺序；

按照所述排列顺序对多个所述测试程序组件进行组合以得到与各个所述存储通道相对应的通道测试子程序。

6.根据权利要求1-5中任意一项所述的测试程序生成方法，其特征在于，在对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序之后，所述方法还包括：

获取与所述测试逻辑相对应的时序间隔信息；

基于所述时序间隔信息，调整所述测试程序中的各个所述测试程序组件之间的时序间隔。

7.一种测试程序生成装置，所述测试程序用于对存储器进行功能测试，其特征在于，所述装置包括：

信息获取模块，被配置为获取待测试的所述存储器的配置信息，并获取针对所述存储器的测试任务信息以及所述存储器的历史测试记录；

组件获取模块，被配置为基于所述测试任务信息和所述历史测试记录生成针对所述存储器的测试逻辑，根据所述测试逻辑从预设的测试程序组件库中获取至少一种测试程序组件；

组件组合模块，被配置为对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序，其中，多个所述测试程序组件的组合顺序与时序条件有关，所述时序条件包括在所述测试逻辑中。