[发明专利]测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备

说明书

本公开涉及一种测试程序生成方法、测试程序生成装置、计算机可读存储介质及电子设备。本公开实施例中的测试程序生成方法包括：获取待测试的所述存储器的配置信息，并获取针对所述存储器的测试逻辑；根据所述测试逻辑从预设的测试程序组件库中获取至少一种测试程序组件；对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序。本公开实施例所提供的测试程序生成方法可以满足不同的测试需求并适应不同的测试条件，而且可以避免编写出错的问题，提高了存储器测试程序的生成效率和准确率。

技术领域

本公开涉及存储器技术领域，具体涉及一种测试程序生成方法、测试程序生成装置、计算机可读存储介质及电子设备。

背景技术

一般而言，存储器生产厂商会提供标准的存储器测试编码程序，然而标准的存储器测试编码程序只能按照固定的时序规格和测试内容对存储器产品进行测试，存在产品验证分析效率低的问题。针对特殊的测试需求和测试条件，只能采用人工撰写的方式进行程序编码，对于数据量较大的复杂的测试程序往往容易出现编写错误。因此，如何按照存储器语言规则进行大数据测试编码程序撰写是目前亟待解决的问题。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

发明内容

本公开的目的在于提供一种测试程序生成方法、测试程序生成装置、计算机可读存储介质及电子设备，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制而导致的程序编码效率低且容易出错的技术问题。

根据本公开的一个方面，提供一种测试程序生成方法，所述测试程序用于对存储器进行功能测试，其特殊之处在于，所述方法包括：

获取待测试的所述存储器的配置信息，并获取针对所述存储器的测试逻辑；

根据所述测试逻辑从预设的测试程序组件库中获取至少一种测试程序组件；

对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序，包括：

根据所述配置信息确定所述存储器中的多个待测试的存储单元；

根据所述测试逻辑确定所述测试程序组件与所述存储单元的匹配关系；

基于所述匹配关系对各个所述测试程序组件进行参数配置；

对经过参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，对经过参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序，包括：

根据所述测试逻辑确定各个所述存储单元的测试类型以及各个所述测试类型的测试顺序；

基于所述测试类型和所述测试顺序确定经过参数配置后的多个所述测试程序组件的排列顺序；

按照所述排列顺序对多个所述测试程序组件进行组合以得到所述测试程序。

在本公开的一种示例性实施方式中，对多个所述测试程序组件进行组合得到与所述配置信息相匹配的测试程序，包括：

根据所述配置信息确定所述存储器中的多个存储通道以及所述存储通道中的多个待测试的存储单元；

根据所述测试逻辑确定所述测试程序组件与每个所述存储通道中的所述存储单元的匹配关系；

基于所述匹配关系对各个所述测试程序组件进行参数配置；

对经过参数配置后的多个所述测试程序组件进行组合以得到与各个所述存储通道相对应的通道测试子程序；