[发明专利]信号处理方法、装置及用户终端

权利要求书

1.一种信号处理方法，应用于用户终端，其特征在于，包括：

获得微分电路输出的带下冲信号，所述带下冲信号为核辐射探测器检测到的核信号经CR微分电路微分处理后的信号；

对所述带下冲信号进行数字CR微分逆运算，得到第一负指数信号；

对所述第一负指数信号进行数字CR微分逆运算，得到阶跃信号；

对所述阶跃信号进行数字CR微分成型，得到消除下冲的第二负指数信号；

所述数字CR微分逆运算的公式为X(n)＝k∑Y(n)+Y(n)，其中，Y(n)为带下冲信号的第n个采样点，X(n)为第一负指数信号的第n个采样点，C为微分电路中电容的电容值，R为微分电路中电阻的电阻值，n为正整数；

所述数字CR微分逆运算的公式为Z(n)＝k∑X(n)+X(n)，其中，X(n)为第一负指数信号的第n个采样点，Z(n)为阶跃信号的第n个采样点，C为微分电路中电容的电容值，R为微分电路中电阻的电阻值，n为正整数。

2.根据权利要求1所述的信号处理方法，其特征在于，所述方法还包括：

调节所述第二负指数信号的信号宽度。

3.一种信号处理装置，应用于用户终端，其特征在于，所述信号处理装置包括：

获取模块，用于获得微分电路输出的带下冲信号，所述带下冲信号为核辐射探测器检测到的核信号经CR微分电路微分处理后的信号；

第一运算模块，用于对所述带下冲信号进行数字CR微分逆运算，得到第一负指数信号；

第二运算模块，用于对所述第一负指数信号进行数字CR微分逆运算，得到阶跃信号；

成型模块，用于对所述阶跃信号进行数字CR微分成型，得到消除下冲的第二负指数信号；

所述数字CR微分逆运算的公式为X(n)＝k∑Y(n)+Y(n)，其中，Y(n)为带下冲信号的第n个采样点，X(n)为第一负指数信号的第n个采样点，C为微分电路中电容的电容值，R为微分电路中电阻的电阻值，n为正整数；

所述数字CR微分逆运算的公式为Z(n)＝k∑X(n)+X(n)，其中，X(n)为第一负指数信号的第n个采样点，Z(n)为阶跃信号的第n个采样点，C为微分电路中电容的电容值，R为微分电路中电阻的电阻值，n为正整数。

4.根据权利要求3所述的信号处理装置，其特征在于，还包括：

信号宽度调节模块，用于调节所述第二负指数信号的信号宽度。

5.一种用于信息处理的用户终端，其特征在于，所述用户终端包括：

存储器；

处理器；以及

信号处理装置，所述信号处理装置安装于所述存储器中并包括一个或多个由所述处理器执行的软件功能模组，所述信号处理装置包括：

获取模块，用于获得微分电路输出的带下冲信号，所述带下冲信号为核辐射探测器检测到的核信号经CR微分电路微分处理后的信号；

第一运算模块，用于对所述带下冲信号进行数字CR微分逆运算，得到第一负指数信号；

第二运算模块，用于对所述第一负指数信号进行数字CR微分逆运算，得到阶跃信号；

成型模块，用于对所述阶跃信号进行数字CR微分成型，得到消除下冲的第二负指数信号；

所述数字CR微分逆运算的公式为X(n)＝k∑Y(n)+Y(n)，其中，Y(n)为带下冲信号的第n个采样点，X(n)为第一负指数信号的第n个采样点，C为微分电路中电容的电容值，R为微分电路中电阻的电阻值，n为正整数；

所述数字CR微分逆运算的公式为Z(n)＝k∑X(n)+X(n)，其中，X(n)为第一负指数信号的第n个采样点，Z(n)为阶跃信号的第n个采样点，C为微分电路中电容的电容值，R为微分电路中电阻的电阻值，n为正整数。