[发明专利]光谱分析模型的构建方法、装置、设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201811440596.1 申请日: 2018-11-28
公开(公告)号: CN109508440B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 牟怿;周龙;杨超;郭亦凡;陈浩 申请(专利权)人: 武汉轻工大学
主分类号: G06F17/16 分类号: G06F17/16;G01N21/35
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 430023 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 光谱分析 模型 构建 方法 装置 设备 存储 介质
【说明书】:

发明公开了一种光谱分析模型的构建方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:获取历史光谱的样本数据;提取所述样本数据中的样本信息以及特征信息,将所述样本信息和特征信息组成样本矩阵;根据所述样本矩阵建立预设原始模型,其中,所述预设原始模型包括若干未知预设参数;根据所述样本矩阵按照预设规则对所述预设原始模型进行训练,得到所述未知预设参数的已知值;将所述已知值代入所述预设原始模型中生成目标光谱分析模型。本发明将噪声样本预先加入训练模型中进行训练,从而提高建模的精度。

技术领域

本发明涉及光谱分析技术领域,尤其涉及一种光谱分析模型的构建方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

目前,红外光谱的分析是化学计量学、模式识别等相关领域的研究热点,通常的方法是利用偏最小二乘回归法建立定量分析模型,但是建立的最小二乘回归模型在样本中含有噪声和异常样本时,模型的参数会受到影响,从而降低建模精度。

发明内容

本发明的主要目的在于提出一种光谱分析模型的构建方法、装置、设备及存储介质,旨在提高建模精度。

为实现上述目的,本发明提供一种光谱分析模型的构建方法,所述光谱分析模型的构建方法包括以下步骤:

获取历史光谱的样本数据;

提取所述样本数据中的样本信息以及特征信息,将所述样本信息和特征信息组成样本矩阵;

根据所述样本矩阵建立预设原始模型,其中,所述预设原始模型包括若干未知预设参数;

根据所述样本矩阵按照预设规则对所述预设原始模型进行训练,得到所述未知预设参数的已知值;

将所述已知值代入所述预设原始模型中生成目标光谱分析模型。

优选地,所述提取所述样本数据中的样本信息以及特征信息,将所述样本信息和特征信息组成样本矩阵,包括:

提取所述样本数据中的每列样本信息以及对应的光谱长度,将所述样本信息以及对应的光谱长度组成所述光谱矩阵;

提取所述样本数据中的光谱对应的特征,将所述特征组成特征矩阵,将所述光谱矩阵和特征矩阵组成所述样本矩阵。

优选地,所述未知预设参数包括回归系数矩阵、未含噪声的光谱矩阵、未含噪声的字典、所述不含噪声的字典表示所述光谱矩阵的系数,所述光谱矩阵中的噪声、辅助变量、约束条件、所述预设原始模型的惩罚参数以及预设矩阵;

其中,所述预设矩阵对角线上的元素为第一预设值,包含的其他元素为第二预设值。

优选地,所述预设原始模型为:

其中,L表示建立的预设原始模型,T表示所述回归系数矩阵,表示所述未含噪声的光谱矩阵,A表示所述未含噪声的字典,Z表示所述不含噪声的字典表示所述光谱矩阵的系数,E表示所述光谱矩阵中的噪声,J表示所述辅助变量,s.t.表示所述约束条件,η,λ1和λ2表示所述预设原始模型的惩罚参数,W表示预设矩阵。

优选地,所述根据所述样本矩阵按照预设规则对所述预设原始模型进行训练,得到所述未知预设参数的已知值,包括:

通过拉格朗日算法将所述预设原始模型变换为第一原始模型:

将所述A,Z,J以及E固定,根据所述样本矩阵对所述第一原始模型进行训练,得到T的已知值;

将所述T,A,Z,J以及E固定,根据所述样本矩阵对所述第一原始模型进行训练,得到的已知值;

将所述T,Z以及J固定,根据所述样本矩阵对所述第一原始模型进行训练,得到A和E的已知值;

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