[发明专利]PCIe 4.0插槽的测试治具

说明书

本发明提供一种PCIe 4.0插槽的测试治具，待测PCIe 4.0插槽为双列直插封装，所述测试治具包括：第一电路板和第二电路板，其中，所述第一电路板焊接有待测PCIe 4.0插槽，待测PCIe 4.0插槽的各信号端分别以单端的形式引出所有的信号线，每条信号线长度相等，每条信号线的另一端连接有SMA接头；所述第二电路板焊接有金手指，所述金手指与待测PCIe 4.0插槽匹配，所述金手指的各信号端分别以单端的形式引出所有的信号线，每条信号线长度相等，每条信号线的另一端连接有SMA接头。本发明能够测试出PCIe 4.0插槽本身的性能参数。

技术领域

本发明涉及信号传输技术领域，尤其涉及一种PCIe 4.0插槽的测试治具。

背景技术

随着现代处理器技术的发展，在互连领域中，使用高速差分总线替代并行总线是大势所趋。与单端并行信号相比，高速差分信号可以使用更高的时钟频率，从而使用更少的信号线，完成之前需要许多单端并行数据信号才能达到的总线带宽。

PCI-Express(peripheral component interconnect express)是一种高速串行计算机扩展总线标准，它比以前的标准有许多改进，包括更高的最大系统总线吞吐量，更低的I/O引脚数量和更小的物理尺寸，更好的总线设备性能缩放，更详细的错误检测和报告机制(高级错误报告，AER)和本机热插拔功能。PCIe标准的更新版本为I/O虚拟化提供了硬件支持。

PCI SIG在2017年9月批准了PCIe 4.0规范1.0版。单通道传输速率变更为16GT/s，编码格式仍未128b/130b，实际传输频宽翻1.969GB/s。处理器和芯片组之间的沟通桥梁也可以依附PCIe 4.0而有更大的频宽，目前AMD和Intel双方均为单向3.98GB/s、双向7.9GB/s，升级PCIe 4.0之后能够再翻倍。

现阶段，PCIe 4.0仍处于新技术，各个连接器厂商推出的PCIe 4.0插槽性能不够完善，还需要进行实测和验证。现有的PCIe测试治具多为PCIe3.0的治具，在设计上注意的细节较少，直接应用于PCIe 4.0上对信号的影响较大，无法体现PCIe 4.0插槽的实际性能。

发明内容

为解决上述问题，本发明提供一种PCIe 4.0插槽的测试治具，能够测试出PCIe4.0插槽本身的性能参数。

本发明提供一种PCIe 4.0插槽的测试治具，待测PCIe 4.0插槽为双列直插封装，所述测试治具包括：第一电路板和第二电路板，其中，

所述第一电路板焊接有待测PCIe 4.0插槽，待测PCIe 4.0插槽的各信号端分别以单端的形式引出所有的信号线，每条信号线长度相等，每条信号线的另一端连接有SMA接头；

所述第二电路板焊接有金手指，所述金手指与待测PCIe 4.0插槽匹配，所述金手指的各信号端分别以单端的形式引出所有的信号线，每条信号线长度相等，每条信号线的另一端连接有SMA接头。

可选地，所述第一电路板的信号线长度等于所述第二电路板的信号线长度。

可选地，所述第一电路板和所述第二电路板的每条信号线的两侧分别开设一排接地孔。

可选地，每排接地孔的孔间间隔为1mm。

可选地，所述第一电路板和所述第二电路板分别布设有一条2X Thru线，所述第一电路板的2X Thru线位于待测PCIe 4.0插槽的对侧，相对于所述第一电路板的对侧边沿具有一定角度，所述第二电路板的2X Thru线位于金手指的对侧，相对于所述第二电路板的对侧边沿具有一定角度，所述第一电路板和所述第二电路板的2X Thru线具有相同的角度，且长度均为所述第一电路板的信号线长度与所述第二电路板的信号线长度之和。

可选地，所述第一电路板的位于待测PCIe 4.0插槽的各信号端的位置采用反焊盘的挖空处理。