[发明专利]光学纱线传感器及其控制方法在审
申请号: | 201811509522.9 | 申请日: | 2018-12-11 |
公开(公告)号: | CN109946228A | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | P.库萨里克;Z.贝兰 | 申请(专利权)人: | 里特机械公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/898 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周学斌;刘春元 |
地址: | 瑞士.*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纱线 辐射源 辐射元件 传感器 感测元件 光学元件 检测区域 辐射 电源 个体辐射元件 光学元件形成 纱线传感器 耦合到 发散 评估 准直 并行 穿过 发射 | ||
1.一种纱线(3)光学传感器,其包括:辐射源(1),其被穿过光学元件(12)指引到用于纱线(3)通过的检测区域(2);以及具有纱线(3)参数的至少一个感测元件(4),其被进一步指引到该区域(2),由此所述辐射源(1)包括至少两个辐射元件(11)并且连接到电源和控制块(5),所述感测元件(4)连接到控制和评估块(6),其中所述电源和控制块(5)以及所述控制和评估块(6)耦合到纱线(3)光学传感器的控制块(7),其特征在于,所述辐射元件(11)中的至少两个具有相同辐射,并且所述光学元件(12)由用于使来自具有相同辐射的全部个体辐射元件(11)到所述检测区域(2)的一个部分的光束进行准直或轻微发散的光学元件形成,由此所述控制块(7)被提供有用于并行和顺序地控制具有相同辐射的辐射元件(11)中的每一个的装置。
2.根据权利要求1所述的纱线光学传感器,其特征在于,向具有相同辐射的辐射元件(11)分配至少一个附加辐射元件(13),所述附加辐射元件(13)具有与具有相同辐射的辐射元件(11)不同的辐射,由此所述控制块(7)被提供有用于并行和顺序地控制所述辐射元件(11,13)中的每一个的装置。
3.根据权利要求2所述的纱线光学传感器,其特征在于,向具有相同辐射的辐射元件(11)并且向所述附加辐射元件(13)分配至少一个附加辐射元件,所述附加辐射元件具有与具有相同辐射的辐射元件(11)和所述附加辐射元件(13)二者都不同的辐射。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的纱线光学传感器,其特征在于,所述辐射元件(11,13)紧邻彼此地位于公共支撑板(10)上。
5.根据权利要求4所述的纱线光学传感器,其特征在于,具有所述辐射元件(11,13)的公共支撑板(10)和所述光学元件(12)被集成在一个非可拆卸组合体中。
6.一种控制根据权利要求1至5中的任一项所述的纱线光学传感器的辐射源的方法,其中控制具有相同辐射的至少两个辐射元件(11)的操作,其特征在于,周期性地且重复地切换具有相同辐射的至少两个相同辐射元件(11)中的每一个,以使得在所述检测区域(2)中存在所需要的辐射强度,而始终仅有具有相同辐射的相同辐射元件(11)之一发射辐射。
7.控制根据权利要求1至5中的任一项所述的纱线光学传感器的辐射源的所述方法,其中控制具有相同辐射的至少两个辐射元件(11)的操作,其特征在于,起先切换具有相同辐射的辐射元件(11)之一长达其使用寿命的整个时期,并且在其使用寿命结束或其辐射强度降低到设定限制以下之后,具有相同辐射的辐射元件(11)中的另一个被激活。
8.控制根据权利要求1至5中的任一项所述的纱线光学传感器的辐射源的所述方法,其中控制具有相同辐射的至少两个辐射元件(11)的操作,其特征在于,同时切换具有相同辐射的辐射元件(11)中的至少两个,由此与用于标称光输出的供电电流相比,这些元件(11)中的每一个通过较低电流供电,以使得以具有相同辐射的操作辐射元件(11)的较低光输出的总和,在所述检测区域(2)中达到所需要的辐射强度。
9.控制根据权利要求1至5中的任一项所述的纱线光学传感器的辐射源的所述方法,其中所述控制块(7)被提供有用于借助于流过所述辐射元件(11,13)的电流来控制所述检测区域(2)中的辐射强度的装置,其特征在于,维持所述检测区域(2)中的所需要的辐射强度是恒定的,由此通过所述感测元件(4)感测所述检测区域(2)中的辐射强度上的改变,并且根据来自所述感测元件(4)的信号,通过改变所述辐射元件(11,13)的光输出,将所述检测区域(2)中的辐射强度校正到所需要的值。
10.根据权利要求6至9中的任一项所述的方法,其中控制至少两个辐射元件(11)的操作,其特征在于,顺序地和/或并行地切换具有相同辐射的至少两个辐射元件(11,13)中的每一个,以便实现所述检测区域(2)中的所需要的辐射强度和/或颜色。
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