[发明专利]错误校正装置、该错误校正装置的操作方法以及电子装置有效
申请号: | 201811524885.X | 申请日: | 2018-12-13 |
公开(公告)号: | CN110837435B | 公开(公告)日: | 2023-03-28 |
发明(设计)人: | 金大成 | 申请(专利权)人: | 爱思开海力士有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10;H03M13/11 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李新娜;吴焱 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 错误 校正 装置 操作方法 以及 电子 | ||
1.一种错误校正装置,包括:
位可靠性值确定电路,基于分别与硬判决位相对应的软判决位组,确定分别与所述硬判决位相对应的位可靠性值;以及
解码器,包括变量节点,所述变量节点接收并存储所述硬判决位和所述位可靠性值,并且通过从所述位可靠性值恢复可靠性值来对所述硬判决位执行解码操作,
其中所述可靠性值分别对应于在所述变量节点中定义的伽罗瓦域,即GF中的除了由所述硬判决位配置的判决符号之外的元素。
2.根据权利要求1所述的错误校正装置,其中所述位可靠性值是分别与GF(2)中的所述软判决位组相对应的被估计为对数似然比值的可靠性值的大小。
3.根据权利要求1所述的错误校正装置,其中所述位可靠性值中的每个不包括正负号信息。
4.根据权利要求1所述的错误校正装置,其中所述位可靠性值确定电路通过参考位可靠性值表来确定所述位可靠性值,所述位可靠性值表包括分别与所述软判决位组相对应的位可靠性值。
5.根据权利要求1所述的错误校正装置,
其中所述变量节点恢复所述硬判决位之中的一个或多个选择的硬判决位的位可靠性值之和作为与所述元素之中的第一元素相对应的可靠性值,以及
当以位为单位将所述判决符号与所述第一元素比较时,所述选择的硬判决位是不同的一个位或多个位。
6.根据权利要求1所述的错误校正装置,其中所述可靠性值中的每个被估计为所述判决符号与相应元素的对数似然比。
7.根据权利要求1所述的错误校正装置,其中所述硬判决位满足独立相同分布条件,即IID条件。
8.根据权利要求1所述的错误校正装置,其中所述解码器基于非二进制低密度奇偶校验码,即非二进制LDPC码来执行所述解码操作。
9.一种操作错误校正装置的方法,包括:
基于分别与硬判决位相对应的软判决位组,确定分别与所述硬判决位相对应的位可靠性值;以及
由变量节点接收并存储所述硬判决位和所述位可靠性值,并且通过从所述位可靠性值恢复可靠性值来对所述硬判决位执行解码操作,
其中所述可靠性值分别对应于在所述变量节点中定义的伽罗瓦域,即GF中的除了由所述硬判决位配置的判决符号之外的元素。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述位可靠性值是分别与GF(2)中的所述软判决位组相对应的被估计为对数似然比值的可靠性值的大小。
11.根据权利要求9所述的方法,其中所述位可靠性值中的每个不包括正负号信息。
12.根据权利要求9所述的方法,其中确定所述位可靠性值包括通过参考位可靠性值表来确定所述位可靠性值,所述位可靠性值表包括分别与所述软判决位组相对应的位可靠性值。
13.根据权利要求9所述的方法,
其中恢复所述可靠性值包括恢复所述硬判决位之中的一个或多个选择的硬判决位的位可靠性值之和作为与所述元素之中的第一元素相对应的可靠性值,以及
其中当以位为单位将所述判决符号与所述第一元素比较时,所述选择的硬判决位是不同的一个位或多个位。
14.根据权利要求9所述的方法,其中所述可靠性值中的每个被估计为所述判决符号与相应元素的对数似然比。
15.根据权利要求9所述的方法,其中所述硬判决位满足独立相同分布条件,即IID条件。
16.根据权利要求9所述的方法,其中解码器基于非二进制低密度奇偶校验码,即非二进制LDPC码来执行所述解码操作。
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