[发明专利]一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台

权利要求书

1.一种用于半导体存储器老化测试装置的测试平台，其特征在于，包括界面工具，设置于上位机的、与界面工具之间通过内部通讯协议交互的第一子平台，以及设置于下位机的、与第一子平台之间通过TCP/IP通讯协议交互的第二子平台；

所述界面工具作为人机交互接口，提供编辑编译工具以进行测试代码编辑和编译生成测试主程序；供用户编辑测试项流程、输入测试控制指令、进行测试项调试；

所述第一子平台用于根据从界面工具接收的指令对半导体存储器老化测试装置进行硬件设置；

所述第二子平台用于根据加载的测试主程序以及在界面工具中编辑的测试项流程控制半导体存储器老化测试装置的测试核心板对半导体存储器进行测试；

所述第一子平台包括硬件抽象层；所述硬件抽象层用于模拟下位机返回的数据，使得第一子平台不依赖于下位机和半导体存储器老化测试装置的硬件独立运行，以进行离线测试。

2.如权利要求1所述的测试平台，其特征在于，所述第一子平台包括接口层和业务层；

所述接口层用于提供对外的接口和协议；所述业务层封装有与测试业务关联的功能设置模块以对界面工具进行支撑。

3.如权利要求2所述的测试平台，其特征在于，所述接口层包括界面工具通讯模块、下位机通讯模块以及用户接口；

所述界面工具通讯模块用于与界面工具进行信息交互，发送处理后的信息给界面工具，接收用户从界面工具输入的信息；

下位机通讯模块用于与下位机进行信息交互，发送需要下位机处理的信息，接收下位机处理后的信息；

用户接口用于接收来测试主程序的数据，向下位机发送这些数据并获取处理后的结果。

4.如权利要求2或3所述的测试平台，其特征在于，所述业务层包括预编译模块，用于对测试程式进行统一的代码检查和设定检查，统一管理编译器以及链接器，并整合arm-linux的编译器，以在windows平台编译适用于下位机运行的程序。

5.如权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述第一子平台包括基础层；所述基础层封装有适用上位机和下位机的跨平台基础库以进行日志打印、基础通讯和/或文件操作。

6.如权利要求5所述的测试平台，其特征在于，所述跨平台基础库包括日志打印库、基础通讯库和文件操作库。

7.如权利要求5所述的测试平台，其特征在于，所述基础层还包括日志管理模块，通过日志管理模块统一管理系统打印的日志和测试打印的日志。

8.如权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，第二子平台包括测试主模块、硬件控制模块和设备驱动模块；

所述测试主模块运行测试主程序，根据测试主界面编辑的测试项流程对半导体存储器老化测试装置的测试核心板进行控制以给待测半导体存储器提供测试信号和电源，并读取测试结果反馈给上位机；

所述硬件控制模块用于为测试主模块和上位机提供统一的接口，包括引脚操作相关接口、电压和电流设置接口、时序发生的设置接口、交流/直流测试设置接口、测试结果处理接口、内存模块操作接口、报警设置接口、时钟脉冲设置接口；

所述设备驱动模块用于对半导体存储器老化测试装置测试核心板上的硬件进行驱动。

9.如权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，第二子平台包括FPGA程序升级模块、主程序加载模块；

所述FPGA程序升级模块用于接收上位机下发的待升级FPGA程序，自动替换旧版程序并备份，实现半导体存储器老化测试装置测试核心板的FPGA程序的升级；

所述主程序加载模块用于响应上位机发送的测试命令，自动将最新的测试主程序加载到下位机并运行。

10.如权利要求1或2所述的测试平台，其特征在于，所述界面工具包括并列的测试主界面、编辑界面以及测试工具；

所述测试主界面用于编辑测试项流程、根据用户的测试控制指令进行测试控制、显示测试监控信息以及测试结果、以及对半导体存储器老化测试装置老化室温度进行监控和控制；

所述编辑界面用于为开发测试程式提供编辑和编译工具，在编辑界面可以进行代码的编辑和编译；

所述测试工具用于测试项调试，包括分配测试资源的待测芯片管脚分配工具，查看和修改测试条件的测试条件监控工具，查看和修改时序信息的时序调试工具，查看波形并检查输入输出信号是否与模板一致的波形绘制工具，扫描多维测试参数用于寻找合格范围以确定合适参数的二维参数扫描测试工具，分步调试DUT测试程序并根据调试结果来修改DUT测试程序的调试工具，根据测试结果显示被测芯片的故障单元数量及所在位置的故障单元显示工具。