[发明专利]一种剥离偏光片的方法和鉴定偏光片类型的方法及其系统

说明书

本发明属于平板显示技术领域，具体涉及一种剥离偏光片的方法和鉴定偏光片类型的方法及其系统。本发明所提供的剥离偏光片的方法，包括：提供一盛装有水的容器，以及待分离的偏光片；偏光片至少包括上保护膜、偏光膜和下保护膜，偏光膜位于上保护膜和下保护膜之间；将偏光片置于容器中，并使得部分偏光片浸于水中；对容器进行密封处理，然后进行加热，直至浸于水中的偏光片的上保护膜和下保护膜之间出现缝隙；以缝隙为切入点逐层剥离偏光片。通过上述剥离偏光片的方法，可无损、快速地获得偏光片的各层光学薄膜。之后，通过红外光谱学方法对每层光学薄膜进行分析检测，可简便、快捷且准确地鉴定各层光学薄膜的具体材质，进而获知该偏光片的具体类型。

技术领域

本发明属于平板显示技术领域，具体涉及一种剥离偏光片的方法和鉴定偏光片类型的方法及其系统。

背景技术

偏光片，能够产生偏振光，液晶显示器的成像必须依靠偏振光，是液晶显示器的关键零件。偏光片为一种复合层结构，由多个光学薄膜层构成，其基本结构包括：位于中间的偏光膜，以及位于偏光膜两侧、起保护作用的上、下保护膜。目前，偏光膜主要指的是PVA(聚乙烯醇)，上、下保护膜为一层具有高透光率、高耐湿热性能的光学薄膜，常规为TAC(三醋酸纤维素)，在一些情况下TAC还可替换为PET(聚对苯二甲酸乙二酯)、COP(环烯烃聚合物)、PMMA(聚甲基丙烯酸甲酯)或PC(聚碳酸酯)。

近年来，应大型化、车用以及中小型尺寸等多种技术需求，在基本结构的基础上，作了多种功能型涂层处理，例如，在其保护基材表面进行防眩AG、防反射AR、抗划伤HC、防污染AS等涂层处理，或在保护基材上进行胶面复合涂层处理，或在复合胶面上涂布对液晶有一定补偿的补偿膜，进而合成了多种不同材质的多功能性偏光片。因此，市面上的偏光片的类型越来越多。不同的偏光片类型对应不同的功能应用，若想知道某一偏光片的类型及实际运用，需要了解该偏光片各层光学薄膜的材质及其组成。偏光片的厚度一般在100～200μm左右，采用高倍数金相显微镜可以清楚看到偏光片的层数，但无法确定每层光学薄膜的具体成分。

为了了解偏光片各层光学薄膜的材质及其组成，需要对偏光片的各层进行剥离分析，但是，每层光学薄膜的厚度较小，最薄的低至几微米，而且，各层光学薄膜之间的贴合非常紧密，仅仅通过机械外力难以实现对偏光片各层光学薄膜的无损、快速分离。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的主要目的在于提供一种剥离偏光片的方法，旨在无损、快速地分离偏光片各层光学薄膜。

本发明的其他目的在于提供一种鉴定偏光片类型的方法和系统，以准确地鉴别各层光学薄膜的材质。

为了实现上述发明目的，本发明的一方面，提供了一种剥离偏光片的方法，包括：

提供一盛装有水的容器，以及待分离的偏光片；所述偏光片至少包括上保护膜、偏光膜和下保护膜，所述偏光膜位于所述上保护膜和所述下保护膜之间；

所述容器内盛装有水，将所述偏光片置于所述容器中，并使得部分所述偏光片浸于水中；

对所述容器进行密封处理，然后进行加热，直至浸于水中的所述偏光片的上保护膜和下保护膜之间出现缝隙；

以所述缝隙为切入点逐层剥离所述偏光片。

本发明的另一方面，提供了一种鉴定偏光片类型的方法，包括如下步骤：

提供待鉴定的偏光片，采用上述方法剥离所述偏光片，获得所述偏光片的各层光学薄膜；

采用红外光谱学方法对每层光学薄膜分别进行分析检测，获得对应的红外吸收光谱；

将所述红外吸收光谱与标准红外吸收光谱进行比对，确定所述光学薄膜的类型，进而鉴定所述偏光片的类型。

本发明的又一方面，提供了一种鉴定偏光片类型的系统，包括：