[发明专利]振动探伤仪检测方法及装置

权利要求书

1.一种振动探伤仪检测方法，其特征在于，包括步骤：

获取结构单元的复频响应函数；

获取被检振动探伤仪的激励信号的激励频谱函数；

根据所述复频响应函数与所述激励频谱函数的乘积，获得第一频谱数据；

获取所述被检振动探伤仪激励所述结构单元的第二频谱数据；

若所述第一频谱数据的设定参数与所述第二频谱数据的设定参数不同，则判定所述被检 振动探伤仪存在故障；

其中，所述获取结构单元的复频响应函数的过程，包括：

通过瞬态激励试验测试结构单元；

获取结构单元经瞬态激励试验的复频响应函数；

所述获取被检振动探伤仪的激励信号的激励频谱函数的过程，包括：

获取麦克风对激励信号的采集信号；

根据采集信号获得激励频谱函数。

2.根据权利要求1所述的振动探伤仪检测方法，其特征在于，所述结构单元包括已知结构特性的结构单元或未知结构特性的结构单元。

3.根据权利要求1所述的振动探伤仪检测方法，其特征在于，所述麦克风包括声学麦克风。

4.根据权利要求1所述的振动探伤仪检测方法，其特征在于，所述根据所述复频响应函数与所述激励频谱函数的乘积，获得第一频谱数据的过程，包括步骤：

根据所述复频响应函数与所述频谱函数的乘积，获得响应频谱函数；

将所述响应频谱函数转换为频谱数据，获得所述第一频谱数据。

5.根据权利要求1所述的振动探伤仪检测方法，其特征在于，所述获取所述被检振动探伤仪激励所述结构单元的第二频谱数据的过程，包括步骤：

通过所述被检振动探伤仪激励所述结构单元；

根据所述被检振动探伤仪的采集数据，生成所述第二频谱数据。

6.根据权利要求1至5任意一项所述的振动探伤仪检测方法，其特征在于，所述第一频谱数据包括第一频谱图；

所述第二频谱数据包括第二频谱图。

7.根据权利要求6所述的振动探伤仪检测方法，其特征在于，所述设定参数包括主峰值对应的频率。

8.一种振动探伤仪检测装置，其特征在于，包括

第一获取模块，用于获取结构单元的复频响应函数，包括：通过瞬态激励试验测试结构单元；获取结构单元经瞬态激励试验的复频响应函数；

第二获取模块，用于获取被检振动探伤仪的激励信号的激励频谱函数，包括：获取麦克风对激励信号的采集信号；根据采集信号获得激励频谱函数；

乘积计算模块，用于根据所述复频响应函数与所述激励频谱函数的乘积，获得第一频谱数据；

第三获取模块，用于获取所述被检振动探伤仪激励所述结构单元的第二频谱数据；

故障检测模块，用于在所述第一频谱数据的设定参数与所述第二频谱数据的设定参数不同时，判定所述被检 振动探伤仪存在故障。

9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现步骤：

获取结构单元的复频响应函数；所述获取结构单元的复频响应函数的过程包括：通过瞬态激励试验测试结构单元；获取结构单元经瞬态激励试验的复频响应函数；

获取被检振动探伤仪的激励信号的激励频谱函数；所述获取被检振动探伤仪的激励信号的激励频谱函数的过程包括：获取麦克风对激励信号的采集信号；根据采集信号获得激励频谱函数；

根据所述复频响应函数与所述激励频谱函数的乘积，获得第一频谱数据；

获取所述被检振动探伤仪激励所述结构单元的第二频谱数据；

若所述第一频谱数据的设定参数与所述第二频谱数据的设定参数不同，则判定所述被检 振动探伤仪存在故障。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现步骤：

获取结构单元的复频响应函数；所述获取结构单元的复频响应函数的过程包括：通过瞬态激励试验测试结构单元；获取结构单元经瞬态激励试验的复频响应函数；

获取被检振动探伤仪的激励信号的激励频谱函数；所述获取被检振动探伤仪的激励信号的激励频谱函数的过程包括：获取麦克风对激励信号的采集信号；根据采集信号获得激励频谱函数；

根据所述复频响应函数与所述激励频谱函数的乘积，获得第一频谱数据；

获取所述被检振动探伤仪激励所述结构单元的第二频谱数据；

若所述第一频谱数据的设定参数与所述第二频谱数据的设定参数不同，则判定所述被检 振动探伤仪存在故障。