[发明专利]农产品农残快速检测方法以及检测用层叠体有效

专利信息
申请号: 201811640061.9 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109799201B 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 孙常库;刘啸虎;赵彩新;胡渭 申请(专利权)人: 芯视界(北京)科技有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;C08F120/14;C08F2/48
代理公司: 11277 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 农残 农产品 检测 快速检测 层叠体 分子印迹 光子晶体 低成本
【权利要求书】:

1.一种农产品农残快速检测方法,其特征在于,所述方法包括:

标准曲线制备

测定n个吸附不同量的农残化合物的分子印迹光子晶体膜的吸收峰,并记录这些吸收峰相比于空白的分子印迹光子晶体膜的吸收峰的变化量,所述n≥3,

建立所述变化量与所述不同浓度的线性关系曲线,得到标准曲线;

待测农残取样

使用分子印迹光子晶体膜与待测农产品规定区域表面接触,得到吸收了农残化合物的分子印迹光子晶体膜;

农残检测

使用便携式光谱仪收集所述吸收了农残化合物的分子印迹光子晶体膜的吸收光谱,并根据其相比于空白的分子印迹光子晶体膜的吸收峰的变化量与所述标准曲线进行对比,

在所述标准曲线制备中,测定n个经过含有不同浓度的农残化合物水溶液浸渍过的分子印迹光子晶体膜的吸收峰,并记录这些吸收峰相比于空白的分子印迹光子晶体膜的吸收峰的变化量,所述不同浓度的浓度范围为10-2ppb~102ppm。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在标准曲线制备中,所述变化量为吸收峰峰值位置或峰值强度的变化量。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在标准曲线制备中,所述变化量与所述不同浓度的线性关系曲线通过非线性数据拟合而得到。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在待测农残取样中,所述接触,为使用所述分子印迹光子晶体膜擦拭所述农产品规定区域表面。

5.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在待测农残取样中,所述规定区域为所述待测农产品表面的全部区域或任意占比区域。

6.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述农残化合物为选自含磷或含氮化合物,并且所述农残化合物为针对所述分子印迹光子晶体膜的印迹化合物。

7.一种农产品检测方法,其特征在于,所述方法包括权利要求1~6任一项所述的方法。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述农产品包括水果、蔬菜的一种或多种。

9.一种用于农产品农残检测用层叠体,其特征在于,所述层叠体包括:

检测层,

所述检测层包括基膜层以及形成于基膜层上的分子印迹光子晶体膜层;

区域控制层,

所述区域控制层层叠于所述检测层之上,并且在与分子印迹光子晶体膜层重叠区域具有镂空区域,所述镂空区域面积大于分子印迹光子晶体膜层的面积;

以及任选的可剥离层,所述可剥离层层叠于所述区域控制层之上,并且至少全部覆盖所述镂空区域,

所述基膜层具有弹性,

所述用于农产品农残检测用层叠体在使用时,将所述分子印迹光子晶体膜层与待测农产品规定区域表面接触。

10.根据权利要求9所述的层叠体,其特征在于,所述分子印迹光子晶体膜层形成于所述基膜层的中心部位,且在分子印迹光子晶体膜层周围以外处仍为没有被分子印迹光子晶体膜层覆盖的基膜层;所述分子印迹光子晶体膜层形状选自矩形、圆形、椭圆形或正方形。

11.根据权利要求9或10所述的层叠体,其特征在于,所述检测层与所述区域控制层在重叠区域至少部分地粘合。

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