[实用新型]γ射线吸收参数测量装置

说明书

本实用新型提供一种γ射线吸收参数测量装置，包括底座16、设置在底座16上的滑道15、设置在滑道15上的滑块支撑座12、设置在滑块支撑座12上的放射源11、设置在底座16上的支撑架9、设置在支撑架9内顶面上的下部准直器10、设置在支撑架9上的料位体4、设置在料位体4上的上部支架3、设置在上部支架3上的上部准直器2、设置在上部准直器2上的探测器1，在滑道15上设置有水平仪13；所述下部准直器10、放射源11和滑块支撑座12在所述支撑架9内。通过将不同材料放入料位体中，观察显示标尺，探测器测得的数据可用来测量不同材料的γ射线吸收参数。

技术领域

本实用新型涉及一种γ射线吸收参数测量装置，属于放射线测试领域。

背景技术

γ射线穿过材料后，沿原来入射方向的γ射线的强度会逐渐减少，强度按指数规律衰减，这称为γ射线的吸收。入射的γ射线强度减弱一半时所对应的吸收材料的厚度为“半吸收厚度”，这表示了材料对γ射线的吸收能力。在开发和遴选γ射线的屏蔽材料过程中，材料的吸收参数决定了材料的屏蔽效果，因此γ射线吸收参数的测量具有重要意义。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了能够测量不同材料的γ射线吸收参数而提供一种γ射线吸收参数测量装置。

本实用新型的目的是这样实现的：

一种γ射线吸收参数测量装置，其特征在于，包括底座16、设置在底座16上的滑道15、设置在滑道15上的滑块支撑座12、设置在滑块支撑座12上的放射源11、设置在底座16上的支撑架9、设置在支撑架9内顶面上的下部准直器10、设置在支撑架9上的料位体4、设置在料位体4上的上部支架3、设置在上部支架3上的上部准直器2、设置在上部准直器2上的探测器1，在滑道15上设置有水平仪13；所述下部准直器10、放射源11和滑块支撑座12 在所述支撑架9内。

本实用新型还包括这样一些结构特征：

1.所述料位体4的内部设有减波板6，减波板6为塑料材质制作成的环形结构，且减波板6上均匀设置小圆孔且构成蜂窝状；减波板6的内径大于探测器1的直径，减波板 6的外径小于料位体4的内径；

2.所述料位体4的底端设有放水管8，放水管8的一端设有活塞7，放水管8的另一端穿出至支撑架9外；

3.所述料位体4的侧面设有显示标尺5；

4.所述料位体4材料是透明钢化玻璃，且其内盛放液体或者固体。；

5.所述上部支架3呈十字状，上部准直器2和探测器1处于上部支架3的中心位置；

6.所述底座16的四周设置四个可伸缩的支撑脚14。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

(1)使用本装置，能够测量不同材料的γ射线吸收参数。

(2)料位体为透明钢化玻璃制成，耐摔耐磨，能直观观察料位体内部材料液位和高度变化，侧面刻有刻度，便于测量内部材料高度。下部设有放水口，可使得液体放净。

(3)放水口的顶端设有活塞，当测量固体材料时，塞上活塞，可阻止固体碎屑进入出水管。

(4)底座上端设置水平仪，可使实验更加的精准。

附图说明

图1是整体结构示意图；

图2是上部支架俯视结构示意图；

图3是减波板俯视结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。