[实用新型]一种静电放电测试的组件

说明书

本实用新型公开了一种静电放电测试的组件，包括：绝缘承载台、螺纹推进杆和轴杆，所述轴杆上设有与被测件接触的探针，所述探针与接地线相连；所述螺纹推进杆垂直设于所述绝缘承载台上，所述螺纹推进杆套有螺母，所述螺母将所述轴杆固定于螺纹推进杆，所述绝缘承载台上设有一个或多个凹槽，所述凹槽的形状与被测件的形状一致。本实用新型能够很好地固定住各种卡类产品及控制接地线，通过螺纹推进杆调节探针的位置，能保证探针与测试卡始终保持垂直测试的状态，实现一人进行E‑gun的ESD测试，节省了工作时间和人力，提高了工作效率。

技术领域

本实用新型属于静电放电测试领域，具体涉及一种静电放电测试的组件。

背景技术

静电放电(Electrostatic Discharge，简称ESD)是造成电子组件或电子系统受到过度电性应力(Electrical Overstress，简称EOS)破坏的主要因素，这种破坏会导致半导体组件形成永久性的毁坏，因而影响集成电路(Integrated Circuits，简称ICs)的电路功能，使得电子产品工作不正常。

ESD产生的原因及其对集成电路放电的方式有很多种，相对应的研究和测试模式也很多，其中就包括静电放电枪(ESD-gun，简称E-gun)模式。静电放电枪模式是指由一个静电放电发生器(ESD Generator)产生一个符合国际和国家标准的随时间变化的电流波形，再将这个电流碰触到IC，电流经由IC的脚(pin)进入IC内，再经由IC放电到地。

以往，卡类产品的E-gun测试中，例如对SIMCARD的测试过程中，通常由一人控制静电放电枪，一人控制接地线及固定测试卡，但是一人控制放电枪，另一人手动控制测试卡，测试过程中放电枪的探针很难与测试卡保持垂直，探针容易与测试卡触碰，而损伤探针或测试卡，使得测试过程费时费力，工作效率低下。

实用新型内容

本实用新型提供了一种静电放电测试的组件，以解决现有技术中，在卡类产品的静电放电枪测试中，难以将测试针头与卡类垂直测试和探针容易与卡类触碰的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种静电放电测试的组件，包括：绝缘承载台、螺纹推进杆、轴杆和探针；

所述螺纹推进杆底端竖直固定于所述绝缘承载台上，所述螺纹推进杆外壁设有外螺纹，所述轴杆的一端开设有通孔，所述轴杆通过所述通孔套接于所述螺纹推进杆的上端，所述轴杆的另一端设有用于测试被测件的探针，所述探针与接地线电连接；

其中，所述轴杆与所述螺纹推进杆垂直，所述探针与所述轴杆垂直。

优选的，所述通孔的内壁设有与所述螺纹推进杆外螺纹匹配的内螺纹。

优选的，所述螺纹推进杆上还套接有螺母，所述螺母位于所述通孔的下方。

优选的，所述螺纹推进杆上还套接螺母和弹簧，所述螺母位于所述通孔的上方，所述弹簧的两端分别抵接于所述轴杆与所述绝缘承载台。

优选的，所述绝缘承载台上设有一个或多个凹槽，所述凹槽的形状与被测件的形状相配合。

优选的，所述绝缘承载台由硬塑料制成。

优选的，所述轴杆的材料为金属材料或硬塑料。

优选的，所述弹簧探针的材料为铜镀金材料。

优选的，所述螺纹推进杆上端外壁设有外螺纹。

优选的，所述螺纹推进杆整体外壁设有外螺纹。

本实用新型能够很好地固定住各种卡类产品及控制接地线，可以应用于E-gun的ESD测试，解决在卡类产品的静电放电枪测试中，难以将测试针头与卡类垂直测试和探针容易与卡类触碰的问题。能节省了工作时间和人力，提高工作效率。

附图说明