[实用新型]一种多路数字光模块误码率的测试装置

说明书

本实用新型为一种多路数字光模块误码率的测试装置，本装置CPU连接的FPGA接多个电光转换单元E/O和光电转换单元O/E，E/O和O/E连接待测数字光模块，CPU连接上位机接收参数设置并将测试结果返回上位机。待测数字光模块连接在本装置的E/O和O/E，上位机根据对各光模块状况设置测试码型、误码率指标和测试速率，经CPU发送指令到FPGA，后者产生相应的电信号经E/O转换为光信号发送到待测试的数字光模块，经其传输后回传到O/E再转换为电信号送入FPGA分析计算得其误码率。CPU将实时测试结果送到上位机。本实用新型可同时测试多个数字光模块，且可选择多种测试参数，满足数字光模块误码率的测试需求。

技术领域

本实用新型涉及高速大容量数字光模块测试及制造技术领域，具体为一种多路数字光模块误码率的测试装置。

背景技术

随着云计算、大数据、物联网、人工智能时代的到来，全球数据中心所产生的数据总流量正在以34％的年复合增长率飞速上升，谷歌、亚马逊等互联网巨头对核心速率100Gbit/s(单波25Gbit/s)甚至更高传输速率的400Gbit/s(单波100Gbit/s)数据中心的需求渐行渐近。其中对核心组件即高速大容量数字光模块的需求更是日益增长，目前基本达到百万量级/数据中心。高速大容量的数字光模块不仅是数据中心的核心组件，也是数字光纤通信，电信骨干网、各类光纤传输专网的核心模块。在如此巨大的需求下，如何又快又准确的完成对高速大容量数字光模块的测试是一项极其重要的工作。

在军用方面，未来的军事设备对于各项战术指标的精度要求更是越来越高。这将导致很多战术设备如雷达，战机，舰船等内部数据的传输及处理量将急速增加，这就需要通过大量的数字光模块来传输日益增大的数据量，显然在未来军事光通信中对于高速大容量数字光模块也将有广泛的需求。

高速大容量数字光模块的关键指标主要是发光功率、光灵敏度、光饱和度、误码率和功耗。光功率计配合少量其他仪器即可完成光功率、光灵敏度及光饱和度指标的测试。

但对于数字光模块组件的误码率指标测试，目前的测试装置和测试方法难以满足日益增长的测试要求。现有的仪器只能测试1或2路低速率且码型单一的光信号，对高速数字光模块进行测试时传输速率，测试数量、传输带宽等参数设置均有局限，无法满足目前数量急速上升的高速大容量数字光模块产品的测试需求。

实用新型内容

本实用新型的目的是设计一种多路数字光模块误码率的测试装置，中央处理器CPU连接的可编程门阵列FPGA有多个电光转换单元和光电转换单元，各电光转换单元和光电转换单元连接待测数字光模块，CPU连接上位机接收测试参数设置信息并将测试结果实时返回上位机。本实用新型可同时测试多个数字光模块，且可选择多种测试参数，解决了当前需求量巨大的数字光模块误码率的测试问题。

本实用新型设计的一种多路数字光模块误码率的测试装置包括中央处理器CPU、电光转换单元和光电转换单元，还包括与CPU连接的可编程门阵列FPGA，FPGA连接4～128套电光转换单元和光电转换单元，待测的数字光模块的输入端连接电光转换单元、输出端连接光电转换单元。所述CPU经以太网与上位机连接，上位机配有人机交互界面。所述FPGA含存储器、作为时钟源的晶振、电信号产生模块和分析计算模块。所述电光转换单元包括驱动电路和激光器，FPGA根据CPU的指令产生的电信号依次送入各电光转换单元的驱动电路，驱动电路按接收的电信号对其连接的激光器进行调制，得到相应的光信号发送到待测的数字光模块。所述光电转换单元包括光电转换器、数字时钟恢复电路和跨阻放大器，待测的数字光模块传输后回传的光信号送入光电转换单元，在光电转换器转换为电信号，再经放大电路放大后送回FPGA进行分析处理。

所述电光转换单元的激光器为传输速率高达25Gbit/s的DFB(DistributedFeedback Laser)激光器，即分布式反馈激光器。

所述电光转换单元的驱动电路含电信号处理整形电路，电光转换单元接收的电信号经处理整形电路处理后送入驱动电路。