[实用新型]半导体制冷片综合测试设备

说明书

本实用新型公开了半导体制冷片综合测试设备，所述检测台上端面的中心位置开设有可容纳半导体制冷片的放置槽，所述检测台上端面的左右两侧对称焊接有限位板，所述限位板前端面中心位置的左右两侧对称焊接有导管，所述挡板的左右两侧对称设置有第一电动推杆，两所述第一电动推杆的伸缩轴相向设置、且端部均焊接有绝缘板，所述工作台前端面的中心位置通过螺栓固定有电阻测试仪，所述龙门架包括垂直板和横板，所述横板下端面的左侧通过螺栓固定有第二电动推杆，所述滑台滑动连接在所述横板的下端面上，所述滑台下端面的中心位置通过螺栓固定有红外测距传感器，本实用新型不仅检测效率高，大大降低了劳动强度，而且结构简单，使用小批量检测。

技术领域

本实用新型涉及半导体制冷片技术领域，特别涉及一种半导体制冷片综合测试设备。

背景技术

半导体制冷片，也叫热电制冷片，是一种热泵。当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以实现制冷的目的。半导体制冷片出厂时需要对其引线通电进行电阻测试，电阻值位于指定范围内才为合格品，否则为不合格品，而要求更高的半导体制冷片需要对其厚度进行检测，厚度不符合标准的也为不合格品，传统的电阻检测方式，是由人工放置于电阻测试器，由人工观察电阻值进行判断，再通过游标卡尺读出厚度，然后区分合格品及不合格品，这样的检测方式由手动区分回收容易出现差错，为避免该种情况发生，需要多次检测，使检测效率大大降低，而现有的半导体制冷片测试设备大多体积大，结构复杂，成本高，适用于大批量生产，对于小批量的生产检测工作显然不能采用这种设备。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种半导体制冷片综合测试设备，不仅检测效率高，大大降低了劳动强度，而且结构简单，使用小批量检测。

半导体制冷片综合测试设备，包括工作台和龙门架，所述工作台上端面的中心位置焊接有检测台，所述检测台上端面的中心位置开设有可容纳半导体制冷片的放置槽，所述检测台上端面的左右两侧对称焊接有限位板，所述限位板前端面中心位置的左右两侧对称焊接有导管，所述导管的后端与所述放置槽相连通，两所述导管中间位置的前侧设置有挡板，所述挡板与所述工作台的上端面垂直焊接相连，所述挡板的左右两侧对称设置有第一电动推杆，所述第一电动推杆通过螺栓固定在所述工作台的上端面，两所述第一电动推杆的伸缩轴相向设置、且端部均焊接有绝缘板，所述工作台前端面的中心位置通过螺栓固定有电阻测试仪，所述电阻测试仪的正极触脚焊接在左侧所述绝缘板右端面的中心位置上，所述电阻测试仪的负极触脚焊接在右侧所述绝缘板左端面的中心位置上，所述龙门架包括垂直板和横板，所述垂直板对称设置在所述工作台上端面的左右两侧，所述垂直板的下端焊接在所述工作台上端面上，所述横板设置在所述垂直板之间，所述横板的左端与左侧所述垂直板右端面的上侧焊接相连，另一端与右侧所述垂直板左端面的上侧焊接相连，所述横板下端面的左侧通过螺栓固定有第二电动推杆，所述第二电动推杆的伸缩轴水平向右设置、且端部焊接有滑台，所述滑台滑动连接在所述横板的下端面上，所述滑台可在所述限位板之间左右滑动，所述滑台下端面的中心位置通过螺栓固定有红外测距传感器，所述红外测距传感器的发射头竖直向下，所述横板上端面的右侧设置有单片机控制器和指示灯，所述第一电动推杆、第二电动推杆、电阻测试仪、红外测距传感器和指示灯均与所述单片机控制器电路连接。

优选的，所述限位板内侧壁的上侧粘接有橡胶块。

优选的，所述滑台的上端面设置有滑柱，所述横板下端面设置有相匹配的滑槽，所述滑柱置于所述滑槽内。

优选的，所述滑柱的截面为燕尾形。

优选的，所述单片机控制器为STM32单片机控制器。

本实用新型的有益效果：