[实用新型]模块产品的老化测试装置

说明书

本实用新型提供了一种模块产品的老化测试装置，包括有：核心板与主板；主板包括有待测组，每个待测组有待测模块，每个待测模块有电源接口及功能键；核心板包括单片机、通信串口及切换电路；通信串口与待测模块连接；单片机包括第一路串口、第二路串口及若干GPIO端口，第一路串口与计算机连接，第二路串口和通信串口分别连接至切换电路的两端。本实用新型通过添加单片机，切换电路，实现在不同通信模块之间进行切换，通过将待测模块分成多组而统一控制每组的电源接口、功能键，实现对大量模块的测试，通过连接第一串口与计算机，使一台计算机就可以控制多个模块，因而使得各个装置间的连接更为简单，节约了资源。

技术领域

本实用新型涉及电子工程领域，特别涉及一种模块产品的老化测试装置。

背景技术

在模块产品的研发阶段，在模块产品的出厂之前，需要反复做一些同样的测试来测试所述模块产品的可靠性以及一致性，这种测试称之为老化测试。

目前的测试方法需要一个模块加一块开发板、一台程控电源、一台PC机。测试时先将模块贴片在一块转接板上，然后与开发板连接，由程控电源提供所需电压，计算机主机连接程控电源，控制电压，并连接开发板串口，通过串口测试模块状态。

将每个开发板的电源与程控电源第一路输出连接，开机键与程控电源第二路输出连接，由上位机软件控制电源两路输出的电压值，第一路用于模块供电，第二路用于拉低开机键，在测试正常开、关机试验时需要拉低开机键来完成测试。将开发板的串口与计算机主机的串口连接，如果有异常则记录下来。

目前程控电源的限流一般为4A，对于2G模块来说，峰值电流接近2A，4G模块的峰值也接近1A，所以为了不超过程控电源的电流驱动能力(4A),一般情况下一台程控电源可以测试4个模块，对于老化试验来说，通常情况可能需要几十片甚至上百片，这时就需要大量的程控电源、另外一台计算机只有有限的接口，在产品老化测试中，同样也需要大量的主机来配套测试，占地面积大，连接复杂，并且不方便高低温情况下的老化测试。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术在产品老化测试中，需要大量的配套测试装置，使得占地面积大，各装置间连接复杂，并且测试应用场景有限制的缺陷，提供一种模块产品的老化测试装置。

本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题：

本实用新型提供了一种模块产品的老化测试装置，包括有：核心板与主板，所述核心板设置在所述主板上；

所述主板包括有至少一待测组，每个所述待测组都包含有至少一个待测模块，每个所述待测模块都包含有功能键；每一所述待测组中，每个所述待测模块之间的功能键相连接；

所述核心板包括单片机、与所述待测模块相等数量的通信串口及切换电路；每个所述通信串口分别与每个所述待测模块相连接；

所述单片机包括第一路串口和第二路串口，所述第一路串口与计算机连接，所述第一路串口用于接收所述计算机发送的测试信号；所述第二路串口和所述通信串口分别连接至所述切换电路的两端；

所述单片机还包括第一GPIO端口和第二GPIO端口，所述第一GPIO端口用于给所述切换电路发送切换信号以使所述第二路串口切换连接至不同的所述通信串口；所述第二GPIO端口用于向所述功能键发送操作信号。

较佳地，所述老化测试装置还包括有操作控制电路，所述操作控制电路设置在所述主板或核心板上，所述操作控制电路连接所述第二GPIO端口与所述功能键；所述操作信号包括电平信号，所述操作控制电路用于接收所述第二GPIO端口输出的电平信号，根据所述电平信号操作所述功能键。

较佳地，每个所述待测模块都包含有电源接口；每一所述待测组中，每个所述待测模块之间的电源接口相连接；