[发明专利]基板层叠体及基板层叠体的制造方法有效
申请号: | 201880027357.5 | 申请日: | 2018-04-24 |
公开(公告)号: | CN110545997B | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 镰田润;高村一夫;茅场靖刚 | 申请(专利权)人: | 三井化学株式会社 |
主分类号: | B32B7/12 | 分类号: | B32B7/12;C09J11/06;C09J179/02;C09J183/04;C09J201/02;H01L21/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 陈彦;李宏轩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 层叠 制造 方法 | ||
一种基板层叠体,其依次层叠有第1基板、粘接层以及第2基板,所述粘接层包含化合物(A)与交联剂(B)的反应产物,所述化合物(A)具有包含伯氮原子和仲氮原子中的至少一个的阳离子性官能团,且重均分子量为90以上40万以下,所述交联剂(B)在分子内具有3个以上‑C(=O)OX基(X为氢原子或碳原子数1以上6以下的烷基),3个以上‑C(=O)OX基中,1个以上6个以下为‑C(=O)OH基,且重均分子量为200以上600以下,上述化合物(A)包含选自由重均分子量1万以上40万以下的脂肪族胺、以及具有硅氧烷键(Si‑O键)和氨基的重均分子量130以上10000以下的化合物所组成的组中的至少1种。
技术领域
本发明涉及基板层叠体以及基板层叠体的制造方法。
背景技术
随着电子设备的小型轻量化、高性能化的进行,要求半导体芯片等的高集成化。然而,电路的微细化难以充分地应对该要求。因此,近年来,提出了通过将多张半导体基板(晶片)、半导体芯片等纵向层叠,制成多层的三维结构,从而高集成化的方法。作为将半导体基板(晶片)、半导体芯片等(以下,有时称为“半导体基板等”)进行层叠的方法,提出了基板彼此的直接接合(熔融粘合(fusion bonding))方法、使用粘接剂的方法等(例如,参照专利文献1~3、非专利文献1~2)。
专利文献
专利文献1:日本特开平4-132258号公报
专利文献2:日本特开2010-226060号公报
专利文献3:日本特开2016-47895号公报
非专利文献
非专利文献1A.Bayrashev,B.Ziaie,Sensors and Actuators A 103(2003)16-22.
非专利文献2Q.Y.Tong,U.M.Gosele,Advanced Material 11,No.17(1999)1409-1425.
发明内容
发明所要解决的课题
熔融粘合时,为了使半导体基板彼此间不产生意外的剥离,因此在400℃~600℃的温度将半导体基板彼此接合。然而,在半导体基板具有半导体电路的情况下,从抑制热对半导体电路的破坏方面出发,要求在400℃以下的低温下的接合方法。另一方面,已知如果使用粘接剂,与利用例如硅烷醇接合进行接合的情况不同,能够在400℃以下的温度下将半导体基板彼此进行接合。
然而,如果使用以往的粘接剂将半导体基板彼此进行接合,则需要超过10μm的厚度,与熔融粘合相比有时产生基板层叠体的厚度增大这样的问题。进一步,由于粘接剂所包含的残留溶剂、通过交联反应而生成的气体等引起空隙产生等,因而粘接面积易于变小,半导体基板彼此易于发生意外的剥离。
本发明的一个实施方式是鉴于上述问题而提出的,其目的在于提供粘接层薄且抑制了意外的剥离的基板层叠体,以及提供该基板层叠体的制造方法。
用于解决课题的方法
用于解决上述课题的具体的方法如下所述。
<1>一种基板层叠体,其依次层叠有第1基板、粘接层以及第2基板,所述粘接层包含化合物(A)与交联剂(B)的反应产物,所述化合物(A)具有包含伯氮原子和仲氮原子中的至少一个的阳离子性官能团,且重均分子量为90以上40万以下,所述交联剂(B)在分子内具有3个以上-C(=O)OX基(X为氢原子或碳原子数1以上6以下的烷基),3个以上-C(=O)OX基中,1个以上6个以下为-C(=O)OH基,且重均分子量为200以上600以下,上述化合物(A)包含选自由重均分子量1万以上40万以下的脂肪族胺以及具有硅氧烷键(Si-O键)和氨基的重均分子量130以上10000以下的化合物所组成的组中的至少1种。
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