[发明专利]待充电设备的适配器老化检测方法和装置

说明书

一种适配器老化检测方法和装置，方法包括：获取待充电设备在预设状态下的充电曲线(S101)；根据所述充电曲线生成负载模拟器的负载曲线(S102)；所述负载模拟器根据所述负载曲线向适配器施加相应负载，并检测所述适配器的温度(S103)；以及根据所述适配器的温度判断是否老化合格(S104)，从而既可以满足适配器的老化效果，还可以检测出适配器工作时的工作情况，确保适配器的可靠性。

技术领域

本申请涉及适配器技术领域，特别涉及一种待充电设备的适配器老化检测方法和装置。

背景技术

为了检测待充电设备的适配器是否合格，需要对适配器进行老化检测。相关技术中，通常将适配器置于40度的高温下，持续进行几个小时的满载老化。但是，相关技术存在的问题是，当考虑成本等因素对适配器降低热处理时，会使适配器的满载工作时间较短，此时，若采用满载高温长时间进行老化检测，容易超过适配器的使用条件，导致适配器老化检测不通过甚至损坏适配器。

发明内容

本申请旨在至少在一定程度上解决上述技术中的技术问题之一。为此，本申请的一个目的在于提出一种待充电设备的适配器老化检测方法。

本申请的第二个目的在于提出一种待充电设备的适配器。

本申请的第三个目的在于提出一种待充电设备的适配器老化检测装置。

本申请的第四个目的在于提出一种非临时性计算机可读存储介质。

为达到上述目的，本申请第一方面实施例提出了一种待充电设备的适配器老化检测方法，获取待充电设备在预设状态下的充电曲线；根据所述充电曲线生成负载模拟器的负载曲线；所述负载模拟器根据所述负载曲线向适配器施加相应负载，并检测所述适配器的温度；以及根据所述适配器的温度判断是否老化合格。

根据本申请实施例的待充电设备的适配器老化检测方法，通过获取待充电设备在预设状态下的充电曲线，然后根据充电曲线生成负载模拟器的负载曲线，负载模拟器根据负载曲线向适配器施加相应负载，并检测适配器的温度，然后根据适配器的温度判断是否老化合格。由此，本申请实施例的检测方法通过负载模拟器根据负载曲线对适配器施加相应负载，从而既可以满足适配器的老化效果，还可以检测出适配器工作时的工作情况，确保适配器的可靠性。

为达到上述目的，本申请第二方面实施例提出了一种待充电设备的适配器，适用于前述的老化检测方法，所述适配器还包括：第一整流单元，所述第一整流单元对输入的交流电进行整流以输出第一脉动波形的电压；开关单元，所述开关单元用于根据控制信号对所述第一脉动波形的电压进行调制；变压器，所述变压器用于根据调制后的所述第一脉动波形的电压输出第二脉动波形的电压；第二整流单元，所述第二整流单元用于对所述第二脉动波形的电压进行整流以输出第三脉动波形的电压；第一充电接口，所述第一充电接口与所述第二整流单元相连；采样单元，所述采样单元用于对所述第二整流单元输出的电压和/或电流进行采样以获得电压采样值和/或电流采样值；控制单元，所述控制单元分别与所述采样单元和所述开关单元相连，所述控制单元输出所述控制信号至所述开关单元，并根据所述电压采样值和/或电流采样值对所述控制信号的占空比进行调节，以使所述第三脉动波形的电压满足充电需求。

为达到上述目的，本申请第三方面实施例提出了一种待充电设备的适配器老化检测装置，包括获取模块，用于获取待充电设备在预设状态的充电曲线；生成模块，用于根据所述充电曲线生成负载模拟器的负载曲线；负载模拟器，用于根据所述负载曲线向适配器施加相应负载，并检测所述适配器的温度，以及根据所述适配器的温度判断是否老化合格。

根据本申请实施例的待充电设备的适配器老化检测装置，通过获取模块获取待充电设备在预设状态的充电曲线，然后生成模块根据该曲线生成负载模拟器的负载曲线，负载模拟器根据负载曲线向适配器施加相应负载，并检测适配器的温度，根据适配器的温度判断适配器是否老化合格。由此，本申请实施例的检测装置通过负载模拟器向适配器施加负载曲线，从而既可以满足适配器的老化效果，还可以检测出适配器工作时的工作情况，确保适配器的可靠性。