[发明专利]一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置及方法在审
申请号: | 201910038991.5 | 申请日: | 2019-01-16 |
公开(公告)号: | CN109799202A | 公开(公告)日: | 2019-05-24 |
发明(设计)人: | 黄文佳 | 申请(专利权)人: | 黄文佳 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31 |
代理公司: | 杭州华知专利事务所(普通合伙) 33235 | 代理人: | 张德宝 |
地址: | 311121 浙江省杭州市余杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光源 物质分析 电磁波反射 成像图 传感器 滤镜 光谱分析设备 接收图像数据 体内传感器 云端服务器 波段光线 光谱区间 目标物质 设备价格 图像数据 吸收波长 参照物 反射波 镜头盖 波长 波段 放入 感光 归零 滤除 头盖 移除 搭配 照射 噪音 测量 拍摄 | ||
1.一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置,包括壳体、传感器、光源、控制模块和通讯模块,其特征是,所述壳体由不透光阻磁材料制成,所述壳体的前端包括可打开的镜头盖,所述镜头盖的材质与壳体相同,所述镜头盖对应壳体内一侧涂有一层参照物涂层,所述参照物涂层用于系统归零使用,所述传感器安装于所述壳体内部,所述传感器用于采集所需电磁波波段范围内的电磁波信号,所述光源安装在所述传感器周边,所述控制模块用于控制光源输出光线、传感器采集反射波段,所述通讯模块用于接收传感器数据并发送到云端服务器中,所述云端服务器用于将传感器采集的图像数据进行分析和输出。
2.根据权利要求1所述的一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置,其特征是,所述光源的数量为复数个,所述复数个光源用于发射不同波段或波长的光线。
3.根据权利要求1所述的一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置,其特征是,所述传感器信号接收端和光源的发射端还设置有滤镜,所述滤镜用于过滤多余的电磁波波段。
4.根据权利要求1所述的一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置,其特征是,所述传感器、光源、控制模块、通讯模块还连接有供电模块。
5.根据权利要求1或4所述的一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置,其特征是,所述控制模块、通讯模块、供电模块均位于壳体外。
6.一种使用上述装置进行物质分析的方法,其特征是,所述方法的步骤如下:根据目标物质以及可能与其共存的其它物质之间吸收波长的区别,使用一种或者多种不同波长或波段的光源,并搭配用于滤除不必要波段光线的滤镜;测量前,关闭镜头盖,将所有光源对参照物涂层进行一次或多次的感光拍摄,形成基础的噪音归零参照数据;移除镜头盖,将被测物质放入壳体内传感器的滤镜前端,所有光源依次对被测物质进行照射,传感器接收每一个光源在被测物质上的反射波并形成图像数据;云端服务器接收图像数据并进行物质分析。
7.根据权利要求6所述的一种使用上述装置进行物质分析的方法,其特征是,所述云端服务器进行物质分析的步骤如下:预先将被测物质的纯净样本,以及被测物质和其他可能存在的混合物以不同比例和方式混合的各种样本,分别进行多次测试,形成基础数据库存储于云端服务器中;云端服务器将传感器收集的图像数据以像素为单位进行区域分割,云端服务器将分割后的图像数据与基础数据进行比对;将不同波段下整体图像反射率、单位区域反射率与基础数据对比,确定相似度最高的基础数据对被测物质进行定性分析;通过整体图像反射率、形成反射的单位区域数量与基础数据对比得到被测物质的定量分析。
8.根据权利要求7所述的一种使用上述装置进行物质分析的方法,其特征是,通过整体图像形成反射的区域位置还可以对被测物质进行简单定位。
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