[发明专利]一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置及方法在审

专利信息
申请号: 201910038991.5 申请日: 2019-01-16
公开(公告)号: CN109799202A 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 黄文佳 申请(专利权)人: 黄文佳
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 杭州华知专利事务所(普通合伙) 33235 代理人: 张德宝
地址: 311121 浙江省杭州市余杭*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 光源 物质分析 电磁波反射 成像图 传感器 滤镜 光谱分析设备 接收图像数据 体内传感器 云端服务器 波段光线 光谱区间 目标物质 设备价格 图像数据 吸收波长 参照物 反射波 镜头盖 波长 波段 放入 感光 归零 滤除 头盖 移除 搭配 照射 噪音 测量 拍摄
【说明书】:

发明公开了一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置及方法,根据目标物质以及可能与其共存的其它物质之间吸收波长的区别,使用一种或者多种不同波长或波段的光源,并搭配用于滤除不必要波段光线的滤镜;测量前,关闭镜头盖,将所有光源对参照物涂层进行一次或多次的感光拍摄,形成基础的噪音归零参照数据;移除镜头盖,将被测物质放入壳体内传感器的滤镜前端,所有光源依次对被测物质进行照射,传感器接收每一个光源在被测物质上的反射波并形成图像数据;云端服务器接收图像数据并进行物质分析。本发明解决了现有光谱分析设备对光谱区间要求分布广泛,需要高等级的光源、传感器和软件导致设备价格高不利于推广使用的技术问题。

技术领域

本发明涉及物质分析领域,尤其涉及一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置及方法。

背景技术

在医学、刑侦、科研、食品、农业以及日常使用等领域中, 都存在对不同物质的定性和定量分析的需求,其中光谱分析是很常用的方法之一,通过使用不同波长的电磁波,尤其是通过紫外线,可见光, 或者近红外光波段的反射或者激发光谱分析,可以确定物质种类。现有的光谱分析技术核心原理是在尽可能的波区间内长通过记录每个不同波长时物质对该波长的吸收率来绘制目标物质的曲线光学图谱,通过提取峰值特征点和数据库信息进行对比,来进行物质分析。

不同的物质存在不同的波峰和光谱曲线形状,因此通过对比数据库模型,可以对物质进行定性。常见的光源和传感器的物理全宽半高(FWHM)区间在10nm左右, 对应图像中约为130/cm, 若直接使用可见解析度极差, 因此需要复杂的元件和软件方法补偿,导致整体设备昂贵庞大。

由于对光谱区间要求尽可能分布广泛, 其所采用的光源价格昂贵, 比如在近红外线区间里, 传统光谱仪必须采用特殊光源诸如钨卤素灯产生900-2500nm以上的波段分布才能有效形成上述图谱,其他廉价而小型的光源比如LED灯由于波段太窄, 无法被传统设备应用。

在传感器上,传统方法对于传感器检测的波段范围的要求很高,导致常用的廉价传感器无法被使用,比如炭基传感器(CCD)的采样范围只能向上检测到1100nm的红外线波段, 约等于 9100/cm, 无法用于上述图谱的绘制,必须采用少见的铟镓砷(InGaSn)传感器等,其复杂度和价格往往是前者的上千倍。

另外受到设计原理的影响,必须采用分光设计,较为廉价的方案包括使用基于MEMES的傅立叶滤片进行分光分时的方法,但是系统间误差大,对于传统方式精度和解析度至上的要求来说是致命的缺陷,其余的高端分光系统则生产复杂价格昂贵,比如LVF线性渐变滤光片,需要通过各种化合物进行数十上百层镀膜,价格是前者的数百倍。

目前市场上使用的设备分析方法皆为尽可能创建完整的对应物质的光谱图,并通过提高全图谱的分辨率,来对物质进行定性分析,这种方法虽然具有广谱适应性,可以检测和区别成千上万种物质,但是设备体积庞大,价格昂贵,绝大多数设备在数十万到数百万人民币,不适合作为初筛设备在第一线被大量使用。

发明内容

为了解决现有光谱分析设备对光谱区间要求分布广泛,需要高等级的光源、传感器和软件导致设备价格高不利于推广使用的技术问题,本发明提出了一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置及方法。

本发明采用如下技术方案:

一种利用电磁波反射成像图进行物质分析的装置,包括壳体、传感器、光源、控制模块和通讯模块,所述壳体由不透光阻磁材料制成,所述壳体的前端包括可打开的镜头盖,所述镜头盖的材质与壳体相同,所述镜头盖对应壳体内一侧涂有一层参照物涂层,所述参照物涂层用于系统归零使用,所述传感器安装于所述壳体内部,所述传感器用于采集所需电磁波波段范围内的电磁波信号,所述光源安装在所述传感器周边,所述控制模块用于控制光源输出光线、传感器采集反射波段,所述通讯模块用于接收传感器数据并发送到云端服务器中,所述云端服务器用于将传感器采集的图像数据进行分析和输出。

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