[发明专利]一种多晶硅铸锭硅片清洗设备有效
申请号: | 201910042065.5 | 申请日: | 2019-01-17 |
公开(公告)号: | CN109904094B | 公开(公告)日: | 2021-02-19 |
发明(设计)人: | 李广森 | 申请(专利权)人: | 安徽华顺半导体发展有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 合肥汇融专利代理有限公司 34141 | 代理人: | 张雁 |
地址: | 239300 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 多晶 铸锭 硅片 清洗 设备 | ||
本发明涉及一种多晶硅铸锭硅片清洗设备,包括加工箱体、抛光杆、驱动机、转轴、内箱、集水槽、泵体、电机一、滑轮、传动轴、绳索、电机二、支架、高压喷头、滑块、齿条、齿轮和安装轴,转轴转动连接在加工箱体内部,且与驱动机的输出端传动连接,抛光杆设置在转轴上,内箱位于集水槽上方,两个滑轮对称转动连接在传动轴上,滑轮通过绳索与内箱固定连接,传动轴与电机一的输出端传动连接,齿条通过滑块滑动连接在加工箱体内部,齿轮通过安装轴转动连接在加工箱体内部,高压喷头通过支架与齿条固定连接,本发明结构优良,设计合理,操作简便,消除抛光死角,抛光清洗二合一,具有广泛地应用前景,创造性强。
技术领域
本发明涉及硅片清洗设备领域,具体为一种多晶硅铸锭硅片清洗设备。
背景技术
半导体器件生产中硅片须经严格清洗。微量污染也会导致器件失效。清洗的目的在于清除表面污染杂质,包括有机物和无机物。这些杂质有的以原子状态或离子状态,有的以薄膜形式或颗粒形式存在于硅片表面。会导致各种缺陷。清除污染的方法有物理清洗和化学清洗两种。
物理清洗属于清洗方式的一种,物理清洗常利用高压喷头,对硅片进行清洗,但传统的硅片加工,清洗设备和抛光设备属于两种设备,先后加工,延长了加工的时间,设备间的配合度较低,且抛光过程中,加工箱体位置固定,抛光会留有死角,导致抛光不彻底,综上所述,现急需一种多晶硅铸锭硅片清洗设备来解决上述出现的问题。
发明内容
本发明目的是提供一种多晶硅铸锭硅片清洗设备,以解决上述背景技术中提出的传统的硅片加工,清洗设备和抛光设备属于两种设备,先后加工,延长了加工的时间,设备间的配合度较低,且抛光过程中,加工箱体位置固定,抛光会留有死角,导致抛光不彻底的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种多晶硅铸锭硅片清洗设备,包括装置主体、升降机构和清洗机构,所述装置主体包括加工箱体、抛光杆、驱动机、转轴、内箱、集水槽、泵体和支腿,所述支腿设置在加工箱体下端面,所述驱动机设置在加工箱体顶端面中间位置,所述转轴转动连接在加工箱体内部,且与驱动机的输出端传动连接,所述抛光杆设置在转轴上,所述集水槽设置在加工箱体内部底端面,所述内箱位于集水槽上方,所述升降机构设置在加工箱体内部上侧,所述升降机构包括电机一、滑轮、传动轴和绳索,所述传动轴转动连接在加工箱体内部靠上部位,所述滑轮设有两个,两个滑轮对称转动连接在传动轴上,所述滑轮通过绳索与内箱固定连接,所述传动轴与电机一的输出端传动连接,所述清洗机构包括辅助清洁组件和电机二,所述电机二设置在加工箱体底端面,所述辅助清洁组件设有两个,两个所述辅助清洁组件对称设置在加工箱体内部,所述辅助清洁组件包括支架、高压喷头、滑块、齿条、齿轮和安装轴,所述齿条通过滑块滑动连接在加工箱体内部,所述齿轮通过安装轴转动连接在加工箱体内部,所述齿轮的齿槽与齿条的齿槽相啮合,所述高压喷头通过支架与齿条固定连接。
进一步地,所述支腿设有四个,四个所述支腿分别设置在加工箱体下端面四个棱角处。
进一步地,所述加工箱体前端面铰接有箱门,箱门中间位置设置有透明观察窗,箱门前端面上侧设置有把手。
进一步地,所述泵体通过软管与高压喷头连接。
进一步地,所述内箱底端面开设有漏孔。
进一步地,所述集水槽内部设置有过滤网,且过滤网为双层结构。
进一步地,两个所述安装轴之间通过同步带传动连接,且安装轴与电机二的输出端传动连接。
进一步地,所述抛光杆设有若干个,若干个所述抛光杆呈环形等距排布于转轴环形侧面。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造