[发明专利]一种分离场重构测试平台有效
申请号: | 201910164794.8 | 申请日: | 2019-03-05 |
公开(公告)号: | CN110031484B | 公开(公告)日: | 2022-06-24 |
发明(设计)人: | 黄卡玛;张益;朱铧丞;杨阳;吴丽;卢萍 | 申请(专利权)人: | 四川大学 |
主分类号: | G01N22/00 | 分类号: | G01N22/00 |
代理公司: | 成都东恒知盛知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51304 | 代理人: | 罗江 |
地址: | 610041 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 分离 场重构 测试 平台 | ||
本发明涉及一种分离场重构测试平台,包括矢量网络分析仪、同轴线、波导同轴转换器、耦合窗、分离场重构主体、分离场重构腔、安装槽、石英管和样品,所述矢量网络分析仪的一侧设置有同轴线,所述同轴线远离矢量网络分析仪的一侧设置有波导同轴转换器,其中,所述石英管设置于安装槽远离分离场重构主体的一侧,所述石英管内侧设置有样品。该分离场重构测试平台,分离场重构腔由两个正交的单模腔系统构成,两个单模腔工作在不同的模式,分别在测试材料处形成电场中心和磁场中心,通过对两个单模腔输入端S参数的测量,通过神经网络等算法即可反演出材料的介电常数和磁导率,保证磁导率不会影响测量结果,操作简单,节省时间,增加工程效率。
技术领域
本发明涉及分离场重构技术领域,具体为一种分离场重构测试平台。
背景技术
微波现已在材料处理、化学反应等方面有了十分广泛的应用,而材料性能对微波处理过程有十分重要的影响,在系统设计与仿真过程中均需要了解材料的介电常数和磁导率等参数。
但现有的微波材料测试系统通常仅仅能测量材料的介电常数,不能区分材料的介电常数和磁导率。
在传统的测量方法中,如果材料具有一定的磁导率,则会将磁导率误测为介电常数的一部分,导致测量结果不准确,因此,本专利设计了一种利用分离场技术的新型微波材料性能测试系统。
发明内容
本发明的目的在于提供一种分离场重构测试平台,以解决上述背景技术提出的现有的材料具有一定的磁导率,则会将磁导率误测为介电常数的一部分,导致测量结果不准确的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种分离场重构测试平台,包括矢量网络分析仪、同轴线、波导同轴转换器、耦合窗、分离场重构主体、分离场重构腔、安装槽、石英管和样品,所述矢量网络分析仪的一侧设置有同轴线,所述同轴线远离矢量网络分析仪的一侧设置有波导同轴转换器,所述波导同轴转换器远离同轴线的一侧设置有耦合窗,所述耦合窗远离波导同轴转换器的一侧设置有分离场重构主体,所述分离场重构主体远离耦合窗的垂面设置有分离场重构腔,所述分离场重构腔与分离场重构主体的连接处贯穿有安装槽,其中,
所述石英管设置于安装槽远离分离场重构主体的一侧,所述石英管内侧设置有样品。
优选的,所述矢量网络分析仪与波导同轴转换器之间为电性连接。
优选的,所述波导同轴转换器共设置有两个,且波导同轴转换器中线之间垂直相交。
优选的,所述耦合窗包括第一耦合窗,所述第一耦合窗设置于耦合窗与波导同轴转换器的连接处。
优选的,所述分离场重构主体为“十”字结构。
优选的,所述分离场重构腔包括单模腔,所述单模腔开设于分离场重构主体的内侧,所述单模腔共设置有两个。
优选的,所述安装槽的内部尺寸大于石英管的外形尺寸,且安装槽的内径与石英管的外径之差接近于零。
优选的,所述样品设置于两个腔体中分别处于电场中心和磁场中心。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、分离场重构腔由两个正交的单模腔系统构成,两个单模腔工作在不同的模式(例如TE103模式和TE102模式),分别在测试材料处形成电场中心和磁场中心,通过对两个单模腔输入端S参数的测量,通过神经网络等算法即可反演出材料的介电常数和磁导率,保证磁导率不会影响测量结果,操作简单,节省时间,增加工程效率。
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