[发明专利]一种自适应的高速SAR-ADC转换时间完全利用电路及方法有效
| 申请号： | 201910195968.7 | 申请日： | 2019-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN109905128B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 危长明;陈良生;罗志国;李俊;夏建宝;杨楠 | 申请（专利权）人： | 上海胤祺集成电路有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/20 | 分类号： | H03M1/20;H03M1/38 |
| 代理公司： | 上海海贝律师事务所 31301 | 代理人： | 范海燕 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 自适应 高速 sar adc 转换 时间 完全 利用 电路 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种自适应的高速SAR-ADC转换时间完全利用的电路，其特征在于：包括计数器、延迟模块以及触发器DFF1，所述延迟模块与所述计数器连接，所述计数器通过减法器与所述触发器DFF1连接，所述延迟模块外接时钟信号clk_vcm；
在ADC转换开始时，所述计数器输出前一次ADC转换过程中的比较次数，再减去理论比较值n得到当前ADC转换需要调整的电阻R1的控制位；
当ADC进入保持模式时，clk_vcm升高，触发器DFF1将电阻R1上一次控制位与需要调整的控制位进行相加求和，输出到当前电阻R1的控制位，保证当前的比较次数等于n；
clk_vcm上升沿经过延迟模块的短暂延迟后，将计数器复位，进入比较模式后，计数器对当前的比较次数计数，计数结果减去n得到需要调整的控制位，用于下一次ADC转换；
对于nbit带冗余的ADC，需要进行n次比较，如果前一次进行了m次比较，则当前需要的比较次数为Yn＝Y(n-1)+m-n。
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