[发明专利]二维码校正方法、装置及设备有效
申请号: | 201910205036.6 | 申请日: | 2019-03-18 |
公开(公告)号: | CN110020571B | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 梁明杰;王浦林 | 申请(专利权)人: | 创新先进技术有限公司 |
主分类号: | G06K7/14 | 分类号: | G06K7/14 |
代理公司: | 北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙) 11309 | 代理人: | 张明;周良玉 |
地址: | 开曼群岛大开曼岛*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二维码 校正 方法 装置 设备 | ||
1.一种二维码校正方法,包括:
基于深度学习算法,从二维码图像中提取二维码区域;
在所述二维码区域中检测探测图形以及所述探测图形的中心点;
若检测到的探测图形的个数为两个,则针对每个探测图形,确定所述探测图形的角点;
基于所述探测图形的角点与两个探测图形的中心点的连线之间的点共线关系,确定所述两个探测图形的位置关系;
根据所述两个探测图形的角点以及所述位置关系,确定所述二维码区域中所述两个探测图形之外的两个区域角点;
基于所述两个区域角点以及目标图形,在所述二维码区域中确定第三个探测图形的填充区域;所述目标图形包括校正图形和定位图形中的一种;
在所述填充区域填充所述第三个探测图形,以得到校正后的二维码图形。
2.根据权利要求1所述的方法,所述针对每个探测图形,确定所述探测图形的角点,包括:
基于所述探测图形的结构特点,在所述探测图形中选取若干像素点;
对所述若干像素点进行连通域分析,得到所述探测图形的连通域;
获取所述连通域的外接多边形的顶点信息;
基于所述顶点信息,确定所述探测图形的角点。
3.根据权利要求1所述的方法,所述基于所述探测图形的角点与两个探测图形的中心点的连线之间的点共线关系,确定所述两个探测图形的位置关系,包括:
通过所述两个探测图形的中心点构建目标连线;
判断所述两个探测图形中任意的第一探测图形是否有角点落在所述目标连线上;
如果是,则确定所述两个探测图形的位置关系为对角关系;
否则确定所述两个探测图形的位置关系为同侧关系。
4.根据权利要求3所述的方法,所述判断所述两个探测图形中任意的第一探测图形是否有角点落在所述目标连线上,包括:
对于所述第一探测图形的角点中的第一角点,通过该第一角点和所述第一探测图形的中心点构建第一连线;
判断所述第一连线与所述目标连线的夹角是否小于阈值;如果是,则确定所述第一角点落在所述目标连线上。
5.根据权利要求3所述的方法,所述探测图形的角点的个数为N;
所述判断所述两个探测图形中任意的第一探测图形是否有角点落在所述目标连线上,包括:
判断所述第一探测图形的N个角点中的目标角点是否落在所述目标连线上;所述目标角点是指基于所述第一探测图形的N个角点和中心点所构建的N条连线中在所述目标连线上投影距离最大的连线所对应的角点。
6.根据权利要求1所述的方法,所述根据所述两个探测图形的角点以及所述位置关系,确定所述二维码区域中所述两个探测图形之外的两个区域角点,包括:
若所述两个探测图形的位置关系为对角关系,则针对每个探测图形,从所述探测图形的角点中选取外侧角点;通过所述外侧角点构建所述探测图形的边;根据所述两个探测图形的边的交点,确定所述两个区域角点;
若所述两个探测图形的位置关系为同侧关系,则针对每个探测图形,从所述探测图形的角点中选取部分外侧角点;通过所述部分外侧角点构建所述探测图形的边;根据所述每个探测图形的边与其它探测图形的对角延长线的交点,确定所述两个区域角点。
7.根据权利要求6所述的方法,所述根据所述每个探测图形的边与其它探测图形的对角延长线的交点,确定所述两个区域角点,包括:
从所述每个探测图形的边与其它探测图形的对角延长线的交点中剔除位于所述二维码区域外的交点,得到筛选后的交点;
根据所述筛选后的交点,确定所述两个区域角点。
8.根据权利要求1所述的方法,所述基于所述两个区域角点以及目标图形,在所述二维码区域中确定第三个探测图形的填充区域,包括:
在所述二维码区域中定位目标图形的查找位置;
在所述查找位置查找所述目标图形,并基于查找结果从所述两个区域角点中选取出第三个探测图形的对应角点;
根据所述对应角点,在所述二维码区域中确定第三个探测图形的填充区域。
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