[发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法

权利要求书

1.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：检测机台(10)、与所述检测机台(10)连接并位于所述检测机台(10)下方的背部照相单元(20)、与所述检测机台(10)连接的阵列测试单元(30)以及与所述检测机台(10)和阵列测试单元(30)均连接的处理单元(40)；

所述背部照相单元(20)用于获取显示面板(50)背部的图像；

所述检测机台(10)用于根据显示面板(50)背部的图像获取显示面板(50)的线缺陷的参考位置；

所述阵列测试单元(30)用于获取显示面板(50)的显示异常子像素的位置；

所述处理单元(40)用于将线缺陷的参考位置和显示异常子像素的位置进行对比以确定线缺陷的实际位置；

所述显示面板(50)包括沿水平方向延伸的多条扫描线(501)、沿竖直方向延伸的多条数据线(502)以及多个子像素(503)；每条扫描线(501)连接一行子像素(503)，每条数据线(502)连接一列子像素(503)；所述子像素(503)包括红色子像素、蓝色子像素或绿色子像素；所述一列子像素(503)的颜色相同；

所述阵列测试单元(30)通过测试短棒点灯测试获取显示面板(50)的显示异常子像素的位置；所述测试短棒点灯测试具体为：将与红色子像素连接的多条数据线(502)、与绿色子像素连接的多条数据线(502)以及与蓝色子像素连接的多条数据线(502)均连接至第一测试短棒，将与奇数行子像素连接的多条扫描线(501)以及与偶数行子像素连接的多条扫描线(501)均连接至第二测试短棒；通过第一测试短棒依次向数据线(502)传输红色信号、绿色信号及蓝色信号，第二测试短棒依次向扫描线(501)传输奇数行扫描信号及偶数行扫描信号，依次点亮奇数行红色子像素、偶数行红色子像素、奇数行绿色子像素、偶数行绿色子像素、奇数行蓝色子像素及偶数行蓝色子像素，确定显示异常子像素为奇数行红色子像素、偶数行红色子像素、奇数行绿色子像素、偶数行绿色子像素、奇数行蓝色子像素或偶数行蓝色子像素；

设所述线缺陷的参考位置为第i行第j列子像素(503)，其中，i和j均为正整数；

当第i行第j列子像素(503)和显示异常子像素均为奇数行或偶数行子像素(503)，且第i行第j列子像素(503)和显示异常子像素的颜色相同时，则确定线缺陷的实际位置为第i行第j列子像素(503)；

当第i行第j列子像素(503)和显示异常子像素均为奇数行或偶数行子像素(503)，且第i行第j列子像素(503)和显示异常子像素的颜色不相同时，则确定线缺陷的实际位置为与第i行第j列子像素(503)距离最近且与显示异常子像素的颜色相同的子像素(503)。

2.如权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述显示面板(50)包括相对设置的TFT阵列基板(51)和CF基板(52)；所述背部照相单元(20)用于从所述TFT阵列基板(51)一侧拍照获取显示面板(50)背部的图像。

3.如权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述线缺陷为子像素(503)中的金属线产生底切的缺陷。