[发明专利]缺陷检测装置及缺陷检测方法

说明书

本发明提供一种缺陷检测装置及缺陷检测方法。该缺陷检测装置包括检测机台、与所述检测机台连接并位于所述检测机台下方的背部照相单元、与所述检测机台连接的阵列测试单元以及与所述检测机台和阵列测试单元均连接的处理单元；所述背部照相单元用于获取显示面板背部的图像；所述检测机台用于根据显示面板背部的图像获取显示面板的线缺陷的参考位置；所述阵列测试单元用于获取显示面板的显示异常子像素的位置；所述处理单元用于将线缺陷的参考位置和显示异常子像素的位置进行对比以确定线缺陷的实际位置，提高线缺陷定位的准确性，从而提高线缺陷的修补成功率，进而提高产品良率。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种缺陷检测装置及缺陷检测方法。

背景技术

薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)是目前液晶显示装置(Liquid CrystalDisplay，LCD)和有源矩阵驱动式有机电致发光显示装置(Active Matrix Organic Light-Emitting Diode，AMOLED)中的主要驱动元件，直接关系平板显示装置的显示性能。

现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片(ColorFilter，CF)基板之间灌入液晶分子，并在两片基板上分别施加像素电压和公共电压，通过像素电压和公共电压之间形成的电场控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线透射出来产生画面。液晶显示面板成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、刻蚀及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。

在TFT-LCD行业，随着产品向高分辨率及更短响应时间的发展，在TFT阵列基板中大量导入铜制程制作金属导线，由于铜制程的低电阻和高频等优点已经取代了铝材料而被广泛用于大尺寸面板中，但是，由于铜制程的taper角比铝大，且由于铜制程的特性(例如蚀刻液容易过蚀刻金属导线的底部)，极易使金属导线产生底切(undercut)的线缺陷，该线缺陷在TFT阵列基板的正面不可见，无法修补，通常做报废处理。

发明内容

本发明的目的在于提供一种缺陷检测装置，可以确定线缺陷的实际位置，提高线缺陷定位的准确性，从而提高线缺陷的修补成功率，进而提高产品良率。

本发明的目的还在于提供一种缺陷检测方法，可以确定线缺陷的实际位置，提高线缺陷定位的准确性，从而提高线缺陷的修补成功率，进而提高产品良率。

为实现上述目的，本发明提供了一种缺陷检测装置，包括：检测机台、与所述检测机台连接并位于所述检测机台下方的背部照相单元、与所述检测机台连接的阵列测试单元以及与所述检测机台和阵列测试单元均连接的处理单元；

所述背部照相单元用于获取显示面板背部的图像；

所述检测机台用于根据显示面板背部的图像获取显示面板的线缺陷的参考位置；

所述阵列测试单元用于获取显示面板的显示异常子像素的位置；

所述处理单元用于将线缺陷的参考位置和显示异常子像素的位置进行对比以确定线缺陷的实际位置。

所述显示面板包括相对设置的TFT阵列基板和CF基板；所述背部照相单元用于从所述TFT阵列基板一侧拍照获取显示面板背部的图像。