[发明专利]光传感器及电子设备在审

专利信息
申请号: 201910310625.0 申请日: 2019-04-17
公开(公告)号: CN110412608A 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 镰田祥平;冈田教和 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S7/481
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 汪飞亚;习冬梅
地址: 日本国大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 发光组件 光传感器 信号光 出射 测定对象物 接收光组件 指向 第二信号 电子设备 高速检测 低电耗 反射 分解 检测
【说明书】:

本发明提供使分解能提升,且能够以低电耗即以高速检测的光传感器。光传感器(1),包括以出射方向为中心出射具有规定规定的广度的信号光的发光组件部(2)、接收在测定对象物(4)被反射的信号光的接收光组件部(3)。发光组件部(2)具有多个发光光点,包含信号光的指向角不同的第一发光组件(21)和第二发光组件(22)。第二发光组件(22),出射较第一发光组件(21)指向角窄的第二信号光(221)。光传感器(1),基于接收光组件部(3)已接收的信号光来检测至测定对象物(4)为止的距离。

技术领域

本发明涉及光传感器、及使用该光传感器的电子设备。

背景技术

为了检测物体的有无、或检测至物体的距离,光传感器被广泛使用。作为此种光传感器,已知有例如像是专利文献1、2等所记载的距离图像传感器。

专利文献1(日本特开2012-47500号公报)所公开的距离图像传感器,为以下构造:通过多个分割光在对象物上形成投光点,且基于在该投光点被划分的线段的倾斜来测量距离,而生成对象物的空间分解图像。又,在专利文献2(日本特开2012-137469号公报)的图像取得装置,提案有:每当取得物体的表面形状等的三维形状时,可变更垂直于光轴的面内方向的分解能。

生成如前述专利文献1所公开般的物体的空间分解图像的方法,必须使所有的投光点驱动,遍及对象空间的全范围而进行检测。因此,具有以下问题点:必定会花费时间在空间扫描,且投光点的消耗电力也变大。

又,如前述专利文献2所公开般的在面内方向的分解能,虽然可缩小检测范围,但由于需要组合多个光学组件的分解能可变程序,因此存以下在问题点:系统复杂化、且消耗电力也变大。

发明概要

发明所要解决的课题

本发明是为了解决前述现有的问题点而完成,其目的在于提供以简易的构造使分解能提升,且能够以低电耗即以高速检测的光传感器、和使用该光传感器的电子设备。

为了解决前述技术性问题,本发明通过以下的技术性方法而实现。即,本发明的技术性方法,成为以下构成:包括以出射方向为中心出射具有规定广度的信号光的发光组件部、和接收在测定对象物被反射的信号光的接收光组件部,基于所述接收光组件部已接收的信号光来检测至所述测量对象物为止的距离的光传感器,其特征在于,在所述发光组件部排列多个发光光点,所述发光光点包含所述信号光的指向角不同的第一发光组件和第二发光组件。

通过该特定事项,所述发光光点组合所述第一光发组件和第二发光组件而构成,通过不同指向角的信号光能够进行细微的检测,可不使结构复杂化地以短时间检测至测定对象物为止的距离。

作为所述光传感器中的更具体的构成,可列举出如下述。首先,优选为所述第一发光组件及第二发光组件为在相同平面上排列的面发光型半导体激光。

所述面发光型半导体激光,具有将被增幅的激光相对于基板而向垂直方向出射的特性,通过如此的面发光型半导体激光的所述第一发光组件及所述第二发光组件在相同平面上排列,因此可谋求所述发光组件部中的所述发光光点的高密度化。

又,在所述构造的光传感器中,优选为所述第一发光组件出射较所述第二发光组件指向角广的信号光。

由此,通过指向角广的所述第一发光组件、和指向角窄的所述第二发光组件的组合能够高效地以短时间进行空间扫描,能够以低电耗检测。

又,在所述构造的光传感器中,优选为在所述发光组件部中的信号光的出射方向上,配设光折射材料。

由此,将从所述发光组件部出射的信号光照射在更广范围而扩大检测范围,并且能够以高精度检测。

又,在所述构造的光传感器中,优选为所述发光光点具备多个第二发光组件,所述多个第二发光组件具有紧密排列的区域和疏松排列的区域。

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