[发明专利]用于材料变形分析的样品测试方法及装置

权利要求书

1.用于材料变形分析样品测试方法，其特征在于，包括以下操作：

S1.样品自由面上不同位置均同时接收到激光，采集样品自由面反射的激光信号；

S2.当样品受到冲击加载时，获取样品自由面上信号变化信息；

S3.对所述信号变化信息进行解析；

其中，所述激光包含信号光和参考光，该信号光和参考光频率不同。

2.如权利要求1所述的样品测试方法，其特征在于，在样品自由面上不同位置接收到不同频率的激光时，该激光包括信号激光和参考激光。

3.如权利要求1所述的样品测试方法，其特征在于，采集样品自由面反射的激光信号为：通过将样品自由面反射的激光转换为电信号并反映在示波器上，从而得到样品自由面信息。

4.如权利要求1所述的样品测试方法，其特征在于，对所述信号变化信息进行解析时，通过MATLAB软件对信号进行至少两次傅里叶变换，得到样品不同位置的自由面速度曲线。

5.用于材料变形分析的样品测试装置，其特征在于，包括：

轻气炮；

样品台，用于固定待测样品，样品与轻气炮相对应；

测速装置，设置于轻气炮所发弹丸轨迹的侧旁并连接有第一示波器，该测速装置用于检测弹丸速度；

其中，样品台上设置有用于安装样品的凹槽，所述凹槽底部与样品之间留有空腔；所述样品台通过多路光纤连接用于检测光强弱的光感式传感器；所述光纤在样品台的一端位于空腔内并用于与样品位于空腔内的一面对应；

所述光感式传感器通过光纤连接有用于提供信号光的第一激光器和用于提供参考光的第二激光器；所述光感式传感器电连接有第二示波器，所述第二示波器与第一示波器通过射频连接线连接。

6.如权利要求5所述的样品测试装置，其特征在于，所述空腔包括用于使样品嵌入的上腔和用于容纳光纤一端的下腔。

7.如权利要求5所述的样品测试装置，其特征在于，所述凹槽槽底设置有通孔，所述通孔相对于槽底面倾斜，所述光纤穿设在该通孔内。

8.如权利要求7所述的样品测试装置，其特征在于，所述通孔相对于槽底面呈45～65°。

9.如权利要求5所述的样品测试装置，其特征在于，所述的光纤为单膜光纤。

10.如权利要求5所述的样品测试装置，其特征在于，所述测速装置为磁测速装置。