[发明专利]一种环形伪影的检测方法和系统有效

专利信息
申请号: 201910359114.8 申请日: 2019-04-30
公开(公告)号: CN110111318B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 鲍园;王毅;曹文静;李翔 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/136;G06T11/00
代理公司: 成都七星天知识产权代理有限公司 51253 代理人: 袁春晓
地址: 201807 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 环形 检测 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种环形伪影的检测方法,其特征在于,包括:

获取原始图像;

将所述原始图像中的像素点映射到极坐标图像中;

确定所述极坐标图像中的待保护区域;

对所述极坐标图像中所述待保护区域以外的至少一个区域进行平滑处理,获得平滑图像;

基于所述极坐标图像和所述平滑图像,生成残差图像;

基于所述残差图像,确定原始图像中所述环形伪影的位置。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述原始图像中的像素点映射到极坐标图像中包括:

确定成像中心在原始图像中的位置;

确定原始图像中,以所述位置为中心由内到外的多个环;

将所述多个环上的像素点分别映射到极坐标图像中的多行或多列中的直线上;其中,多个环与所述多行或所述多列一一对应。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述多个环上的像素点分别映射到极坐标图像中的多行或多列中的直线上包括:

对于多个环中的每一个:

基于环上的像素点进行插值运算,获得至少一个插值像素点;

将所述环上的像素点以及所述至少一个插值像素点映射到极坐标图像中的一行或一列中的直线上。

4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述直线的长度与其对应的环的半径正相关。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述原始图像中的像素点映射到极坐标图像中包括:

将所述原始图像中的像素点映射到极坐标图像中梯形或三角形区域内。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述极坐标图像中的待保护区域包括:

对所述极坐标图像进行边界提取,获得强边界区域;

基于所述强边界区域进行区域扩张,生成待保护区域。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述极坐标图像和所述平滑图像,生成残差图像包括:

将所述极坐标图像与所述平滑图像中相应像素点的像素值相减,得到所述残差图像。

8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述残差图像,确定原始图像中所述环形伪影的位置包括:

对所述残差图像按行求均值或按列求均值;

将均值大于第一设定阈值的行或列对应的原始图像中的环确定为环形伪影区域,或者将均值小于第二设定阈值的行或列对应的原始图像中的环确定为所述环形伪影区域。

9.如权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述残差图像,确定原始图像中所述环形伪影的位置包括:

基于所述残差图像生成梯度角度图像;

对所述梯度角度图像按行求均值或按列求均值;

确定峰值或谷值所在的行或列;所述峰值为大于第三设定阈值的均值,谷值为小于第四设定阈值的均值;

将峰值所在行或列与距离其最近的谷值所在行或列作为一个峰谷位置对;

筛选出峰谷位置对中,行间距或列间距小于设定距离值的峰谷位置对;

基于筛选出的峰谷位置对中的行或列对应的原始图像中的环,确定所述环形伪影区域。

10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述基于所述残差图像生成梯度角度图像包括:

计算所述残差图像中的像素值的梯度角度值,得到所述梯度角度图像;其中,所述梯度角度值反映残差图像中像素值沿图像至少两个不同方向变化量的比值大小。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影医疗科技股份有限公司,未经上海联影医疗科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910359114.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top