[发明专利]一种用于电子元件的快速冷热冲击实验装置及方法

权利要求书

1.一种用于电子元件的快速冷热冲击实验装置，包括往复运动组件以及上下布置的制热组件和制冷组件，其特征在于：所述制热组件包括线圈（1）和防护罩（2），所述防护罩（2）内壁设有用于安装线圈（1）的容置槽（21），轴向设有容往复运动组件穿过的通孔（22）；

所述制冷组件包括箱体（3）和冷却液（31），所述箱体（3）上表面与通孔（22）对应的位置上设有能够开合的隔热板（4），箱体（3）内装有冷却液（31）；

所述往复运动组件包括升降杆（5）、载物台（6）和加热盘（7），所述升降杆（5）与制热组件的通孔（22）间隙配合，载物台（6）固定于升降杆（5）的下端且载物台（6）中部设有容纳腔（6），加热盘（7）固定于容纳腔（61）中，所述加热盘（7）上表面用于放置试样（10），当线圈（1）通入电流，加热盘（7）位于防护罩（2）内时，由于电磁效应加热盘（7）发热对试样（10）进行加热；

试样（10）在升降杆（5）的带动下在制热组件和制冷组件之间进行往复移动。

2.根据权利要求1所述的用于电子元件的快速冷热冲击实验装置，其特征在于：所述加热盘（7）中心设有第一温度采集组件（8），线圈（1）和第一温度采集组件（8）均与控制系统连接，所述控制系统获取由第一温度采集组件（8）得到的温度信号，根据该温度信号调节线圈（1）的通入电流。

3.根据权利要求2所述的用于电子元件的快速冷热冲击实验装置，其特征在于：所述制冷组件还包括制冷压缩机（13）和泵体（14），所述制冷压缩机（13）的进液口与箱体（3）内的冷却液（31）管路连接，出液口与泵体（14）的进液口管路连接，泵体（14）的出液口与箱体（3）内的冷却液（31）管路连接；

所述冷却液（31）中设有第二温度采集组件（9），制冷压缩机（13）和第二温度采集组件（9）均与控制系统连接，所述控制系统获取由第二温度采集组件（9）得到的温度信号，根据该温度信号调节制冷压缩机（13）的制冷功率，使得冷却液（31）温度保持恒定。

4.根据权利要求1或2所述的用于电子元件的快速冷热冲击实验装置，其特征在于：所述冷却液（31）为去离子水和乙二醇的混合溶液，冰点为-69℃，去离子水和乙二醇的体积比为1：2。

5.根据权利要求1或2所述的用于电子元件的快速冷热冲击实验装置，其特征在于：所述升降杆（5）与载物台（6）通过销钉（11）固定连接。

6.根据权利要求1或2所述的用于电子元件的快速冷热冲击实验装置，其特征在于：所述防护罩（2）为陶瓷罩，所述升降杆（5）外侧壁的材质为钢，载物台（6）的材质为水泥石棉，加热盘（7）的材质为铜。

7.一种快速冷热冲击实验方法，其特征在于，实验方法采用权利要求1~6任一项所述的用于电子元件的快速冷热冲击实验装置，包括如下步骤：

步骤一，将试样（10）固定于加热盘（7）上表面；

步骤二，根据工艺要求设定试样的加热温度、加热时间和保温时间、试样的制冷温度和制冷时间以及循环次数；

步骤三，闭合隔热板（4），启动制热组件，线圈（1）通入电流，升降杆（5）位于初始位置，加热盘（7）位于防护罩（2）内，由于电磁效应发热并对试（10）样进行加热、保温；

步骤四，启动往复运动组件，打开隔热板（4），升降杆（5）向下运动，带动载物台（6）、加热盘（7）和试样（10）浸没入冷却液（31）中，达到设定的制冷时间后，升降杆（5）向上运动至初始位置，单次循环结束；

步骤五，重复步骤三和步骤四，直至循环次数达到设定值。