[发明专利]注入装置、三维存储器的制备装置及方法在审
申请号: | 201910983409.2 | 申请日: | 2019-10-16 |
公开(公告)号: | CN110828340A | 公开(公告)日: | 2020-02-21 |
发明(设计)人: | 邱宇渊;张珍珍 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L27/11563 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 注入 装置 三维 存储器 制备 方法 | ||
本发明提供一种注入装置、三维存储器的制备装置及方法。注入装置包括依次设置的至少一个分流器,每个所述分流器中均设有通孔,所述注入装置包括入口以及与所述入口相对设置的出口,在所述入口到所述出口的方向上,所述通孔的数量逐渐增加。本发明解决了对形成有沟道孔的晶圆结构进行冷却,然而冷却过程需要较长的时间,导致三维存储器的制备工作效率低,产率较低的技术问题。
技术领域
本发明涉及半导体器件技术领域,特别涉及一种注入装置、三维存储器的制备装置及方法。
背景技术
电荷俘获型三维存储器(CTM)由于高存储密度,高稳定性和成熟的制备工艺而成为存储器闪存(flash)主流结构。
三维存储器的沟道孔内在外延结构之前,需要对形成有沟道孔的晶圆结构进行冷却,然而冷却过程需要较长的时间,导致三维存储器的制备工作效率低,产率较低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种注入装置、三维存储器的制备装置及方法,以解决对形成有沟道孔的晶圆结构进行冷却,然而冷却过程需要较长的时间,导致三维存储器的制备工作效率低,产率较低的技术问题。
本发明提供一种注入装置,包括:依次设置的至少一个分流器,每个所述分流器中均设有通孔,所述注入装置包括入口以及与所述入口相对设置的出口,在所述入口到所述出口的方向上,所述通孔的数量逐渐增加。
其中,所述至少一个分流器形成环形结构,且所述环形结构为多层。
其中,所述至少一个分流器为环形分流器。
其中,当所述分流器的数目大于或等于两个时,至少两个所述分流器上的通孔错位设置。
其中,在所述入口到出口的方向上,所述至少一个分流器的通孔的孔径逐渐减小。
本发明提供一种三维存储器的制备装置,包括晶舟和上述的注入装置,所述至少一个分流器与所述晶舟依次设置,且所述晶舟靠近所述注入装置的出口,所述晶舟用于承载所述三维存储器的晶圆结构。
本发明提供一种应用上述的制备装置制备三维存储器的方法,包括:
提供依次设置的至少一个分流器与晶舟,其中,所述晶舟靠近所述注入装置的出口,所述晶舟内承载有多个晶圆结构,每个所述晶圆结构内形成有沟道孔;
通过所述注入装置的入口向所述注入装置内注入作业气体;
所述作业气体对所述晶圆结构进行作业。
其中,在所述作业气体对所述晶圆结构进行作业之后,所述方法还包括:
在所述沟道孔的侧壁与所述外延结构上形成沟道层;
在所述沟道层上形成插塞口;
通过所述注入装置的入口向所述注入装置内注入所述作业气体;
所述作业气体对所述晶圆结构进行作业。
其中,所述作业气体为冷却气体或刻蚀气体。
其中,在注入所述作业气体之前,所述方法还包括:
所述晶舟带动所述晶圆结构进行旋转。
其中,所述注入装置的入口为多个,所述方法还包括:
通过多个所述入口向所述注入装置内注入作业气体。
其中,多个所述入口包括第一入口与第二入口,所述第一入口与所述第二入口相对设置,以使所述工作气体以相反的方向进入所述注入装置内。
其中,所述冷却气体包括氮气。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造