[发明专利]接口测试的方法、装置、存储介质和电子设备

说明书

本公开涉及一种接口测试的方法、装置、存储介质和电子设备，涉及电子信息技术领域，应用于服务端，该方法包括：接收客户端通过待测接口发送的测试请求，测试请求包括目标挡板接口地址，向目标挡板接口地址所指示的目标挡板接口发送测试请求，以使目标挡板接口根据测试请求生成响应数据，接收目标挡板接口发送的响应数据，将响应数据发送至待测接口。本公开通过将服务端作为待测接口与相应的挡板接口之间的反向代理，以实现对待测接口的测试，待测接口不需要依赖于挡板接口的部署，同时挡板接口可以独立开发和部署，提高了接口测试的效率。

技术领域

本公开涉及电子信息技术领域，具体地，涉及一种接口测试的方法、装置、存储介质和电子设备。

背景技术

随着电子信息技术的不断发展，用于实现各类功能的电子设备越来越多，为了保证电子设备功能正常，数据传输稳定，需要对电子设备的各个接口进行测试，以检验各个接口能否正常传输数据。通常情况下，由于成本、实际应用环境等原因，在对接口进行测试时，无法搭建一个完整的测试环境，为了模拟真实接口，需要开发多个挡板接口来覆盖真实的测试环境，以达到测试电子设备上各个接口的目的。然而多个挡板接口部署复杂，测试人员在对接口进行测试时，依赖于外部挡板接口的部署，使用不便，导致降低了接口测试的效率。

发明内容

本公开的目的是提供一种接口测试的方法、装置、存储介质和电子设备，用于解决现有技术中存在的接口测试效率低的问题。

为了实现上述目的，根据本公开实施例的第一方面，提供一种接口测试的方法，应用于服务端，所述方法包括：

接收客户端通过待测接口发送的测试请求，所述测试请求包括目标挡板接口地址；

向所述目标挡板接口地址所指示的目标挡板接口发送所述测试请求，以使所述目标挡板接口根据所述测试请求生成响应数据；

接收所述目标挡板接口发送的所述响应数据；

将所述响应数据发送至所述待测接口。

可选地，所述方法还包括：

接收挡板接口发送的注册请求，所述注册请求包括挡板接口地址和挡板接口信息；

根据所述注册请求，存储所述挡板接口地址与所述挡板接口信息的对应关系。

可选地，所述向所述目标挡板接口地址所指示的目标挡板接口发送所述测试请求，包括：

根据所述对应关系，确定所述目标挡板接口地址对应的目标挡板接口信息；

根据所述目标挡板接口信息，向所述目标挡板接口发送所述测试请求。

可选地，所述测试请求还包括待测接口地址、请求方法和请求数据，所述待测接口地址用于指示所述待测接口；

所述向所述目标挡板接口地址所指示的目标挡板接口发送所述测试请求，以使所述目标挡板接口根据所述测试请求生成响应数据，包括：

向所述目标挡板接口发送所述测试请求，以使所述目标挡板接口根据所述请求方法和所述请求数据，生成所述响应数据；

所述将所述响应数据发送至所述待测接口，包括：

根据所述待测接口地址将所述响应数据发送至所述待测接口。

可选地，在所述接收客户端通过待测接口发送的测试请求之后，所述方法还包括：

将所述测试请求作为第一测试记录进行存储；

在所述接收所述目标挡板接口发送的所述响应数据之后，所述方法还包括：

将所述响应数据存储至所述第一测试记录中。