[发明专利]一种基于指针捕捉的仪表盘中心确定方法及系统有效

专利信息
申请号: 201911198217.7 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN110929716B 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 卜家洛;李占双;金佳鑫;刘刚 申请(专利权)人: 航天科技控股集团股份有限公司
主分类号: G06V10/12 分类号: G06V10/12;G06V30/14;G06V10/25;G06V10/56;G06V10/74;G06K9/62
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 于歌
地址: 150060 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 指针 捕捉 仪表盘 中心 确定 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于指针捕捉的仪表盘中心确定方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一:启动仪表,延时3s后,拍摄指针指示仪表0刻度时的仪表盘照片,

步骤二:选取仪表盘照片中绿色、且亮度在600cd/m2~800cd/m2区域的中心点作为第一特征点,

步骤三:对仪表盘照片中的指针部分进行截取,使得截取图片中包括整个指针,

步骤四:对截取图片进行颜色提取,获得黑白图片,在黑白图片中画出指针中线,

步骤五:驱动指针摆动至其余刻度、且该刻度处不包括红色区域,延时1s后,拍摄仪表盘照片,

步骤六:选取步骤五获得的仪表盘照片中绿色、且亮度在600cd/m2~800cd/m2区域的中心点作为第二特征点,

步骤七:对步骤五获得的仪表盘照片中的指针部分进行截取,使得截取图片中包括整个指针,

步骤八:对步骤七获得的截取图片进行颜色提取,获得黑白图片,在黑白图片中画出指针中线,

步骤九:分别计算第一特征点和第二特征点与标准特征点的偏差,并利用该偏差分别对各自对应的指针中线位置进行校正,

步骤十:按照步骤九校正后的位置将两条中线画在模板图片中,将两条中线在模板图片中的交点坐标作为仪表盘中心坐标。

2.根据权利要求1所述的一种基于指针捕捉的仪表盘中心确定方法,其特征在于,在步骤一之后还包括以下步骤:

判断步骤一获得的仪表盘照片中是否存在绿色、且亮度在600cd/m2~800cd/m2的区域,是则执行步骤二,否则返回步骤一。

3.根据权利要求2所述的一种基于指针捕捉的仪表盘中心确定方法,其特征在于,在步骤五之后还包括以下步骤:

判断步骤五获得的仪表盘照片中是否存在绿色、且亮度在600cd/m2~800cd/m2的区域,是则执行步骤六,否则返回步骤五。

4.根据权利要求1、2或3所述的一种基于指针捕捉的仪表盘中心确定方法,其特征在于,步骤九具体为:

计算模板图片中的标准特征点坐标与第一特征点坐标的偏差,利用该偏差对步骤四获得的指针中线位置进行校正,

计算模板图片中的标准特征点坐标与第二特征点坐标的偏差,利用该偏差对步骤八获得的指针中线位置进行校正。

5.根据权利要求1所述的一种基于指针捕捉的仪表盘中心确定方法,其特征在于,步骤三和步骤七中的截取图片均为长方形。

6.根据权利要求1所述的一种基于指针捕捉的仪表盘中心确定方法,其特征在于,步骤四和步骤八中,画出指针中线的方法为:

将指针末端中点与指针尖端连线,该连线即为指针中线。

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