[发明专利]一种片上系统及USB物理层测试方法

权利要求书

1.一种片上系统，其特征在于，用于测试USB物理层，包括：

微控制单元，与上位机连接；

现场可编程门阵列，包括：

数据发生器，与所述微控制单元连接；

数据校验器，与所述微控制单元连接；以及

USB物理层收发器，包括：

USB物理层数据接收端，与所述微控制单元和所述数据发生器连接；

数据缓冲器，与所述USB物理层数据接收端连接，用于缓冲测试激励数据；以及

USB物理层数据发送端，与所述微控制单元、所述数据校验器和所述数据缓冲器连接；

其中，所述微控制单元接收并响应于所述上位机的测试指令，控制所述数据发生器生成测试激励数据，以用于测试USB物理层，控制所述USB物理层数据接收端接收所述测试激励数据，控制所述USB物理层数据发送端将所述测试激励数据发送给所述数据校验器，控制所述数据校验器对所述测试激励数据进行校验以输出校验结果，以及将所述校验结果发送给所述上位机。

2.如权利要求1中所述的片上系统，其特征在于，所述数据发生器包括：

数据生成逻辑电路，用于生成用于测试USB物理层的随机数据；

并串转换逻辑电路，与所述数据生成逻辑电路和所述USB物理层数据接收端连接，用于对所述随机数据进行并串转换，以生成所述测试激励数据；以及

数据存储逻辑电路，与所述数据生成逻辑电路连接，用于存储所述随机数据。

3.如权利要求2中所述的片上系统，其特征在于，所述数据校验器包括：

串并转换逻辑电路，与所述USB物理层数据发送端连接，用于对所述测试激励数据进行串并转换；

数据校验逻辑电路，与所述串并转换逻辑电路和所述数据发生器连接，用于比较串并转换后的测试激励数据以及所述数据发生器生成的随机数据，以得到校验结果；以及

数据发送逻辑电路，与所述微控制单元连接，用于将所述校验结果发送给所述微控制单元。

4.如权利要求1中所述的片上系统，其特征在于，所述现场可编程门阵列还包括：

时钟控制电路，输入端输入时钟信号，输出端与所述微控制单元连接；以及

复位控制电路，输入端输入复位信号，输出端与所述微控制单元连接；

其中，在所述微控制单元接收并响应于所述上位机的测试指令之前，所述时钟控制电路接收时钟信号并将所述时钟信号传输到微控制单元，且所述复位控制电路接收复位信号并将所述复位信号传输到微控制单元，以使所述片上系统上电并复位。

5.如权利要求1-4中任一项所述的片上系统，其特征在于，所述微控制单元包括高速总线控制电路和总线控制电路，其中，所述高速总线控制电路通过高速总线与所述USB物理层收发器连接，所述总线控制电路通过总线与所述数据发生器和所述数据校验器连接。

6.一种USB物理层测试方法，其特征在于，应用于微控制单元，所述微控制单元与上位机、现场可编程门阵列和USB物理层收发器连接，其中，所述现场可编程门阵列包括与所述微控制单元和所述USB物理层收发器连接的数据发生器和数据校验器；

其中，所述USB物理层收发器包括：

USB物理层数据接收端，与所述微控制单元和所述数据发生器连接；

数据缓冲器，与所述USB物理层数据接收端连接，用于缓冲测试激励数据；以及

USB物理层数据发送端，与所述微控制单元、所述数据校验器和所述数据缓冲器连接；

所述方法包括：

接收所述上位机的测试指令；

响应于所述上位机的测试指令，控制所述数据发生器生成测试激励数据，以用于测试USB物理层，控制所述USB物理层数据接收端接收所述测试激励数据，控制所述USB物理层数据发送端将所述测试激励数据发送给所述数据校验器，控制所述数据校验器对所述测试激励数据进行校验以输出校验结果，以及将所述校验结果发送给所述上位机。