[发明专利]故障检测装置、方法和设备

权利要求书

1.一种故障检测装置，其特征在于，应用于已组装于LED显示屏中的芯片的引脚检测，所述LED显示屏包括多个LED灯以及与LED对应的多个控制芯片，所述控制芯片包括多个引脚，所述故障检测装置包括控制装置和显示装置，所述控制装置与所述显示装置连接，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接，其中，所述第一待检测芯片和第二待检测芯片为所述多个控制芯片中的芯片，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接的步骤为所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接，所述待检测引脚为所述控制芯片中的多个引脚中的引脚；

所述控制装置，用于分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对是否相同，并将比对结果发送至所述显示装置，其中，当相同时，控制继续将下一个第一待检测数字信号与对应的第二待检测信号进行比对，所述待检测信号为通过读取待检测引脚的信号波形数据所获得的信号；

所述显示装置，用于接收所述控制装置发送的比对结果，并将比对结果进行显示，包括，显示当前待检测信号所对应的待检测芯片的芯片信息和所述当前待检测信号所对应待检测引脚的引脚信息。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对，并将比对结果发送至所述显示装置为通过条件转移指令将当前所述第一待检测信号与当前所述第二待检测信号进行比对，确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置。

3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述确定所述当前第一待检测信号与当前所述第二待检测信号不相等，将比对结果发送至所述显示装置包括：

分别将所述第一待检测信号和所述第二待检测信号与对应的标准信号进行比对；

确定与所述标准信号不同的待检测信号，将比对结果发送至所述显示装置。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述控制装置为单片机，所述显示装置为8位LED数码管组成的数码显示器。

5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接为所述单片机的I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述单片机的I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接为所述单片机的两个I/O口分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的相同功能的待检测引脚连接。

7.如权利要求4所述的装置，其特征在于，所述待检测引脚为控制信号脚或数据传输脚，所述控制信号脚包括如下一种或多种：DCLK、LE和GCLK；所述数据传输脚包括如下一种或多种：SDI和SDO。

8.一种故障检测方法，其特征在于，应用于单片机，用于LED显示屏中的芯片检测，所述LED显示屏包括多个LED灯以及与LED对应的多个控制芯片，所述控制芯片包括多个引脚，所述单片机与显示装置相连，所述单片机分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接，其中，所述第一待检测芯片和第二待检测芯片为所述多个控制芯片中的芯片，控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接的步骤为所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片的待检测引脚连接，所述待检测引脚为所述控制芯片中的多个引脚中的引脚，所述方法包括：

分别采集所述第一待检测芯片的第一待检测数字信号和第二待检测芯片的第二待检测数字信号，并控制将所述第一待检测数字信号和第二待检测数字信号进行比对是否相同，并将比对结果发送至所述显示装置，其中，当相同时，控制继续将下一个第一待检测数字信号与对应的第二待检测信号进行比对，所述待检测信号为通过读取待检测引脚的信号波形数据所获得的信号；

通过所述显示装置将比对结果进行显示，包括，显示当前待检测信号所对应的待检测芯片的芯片信息和所述当前待检测信号所对应待检测引脚的引脚信息。

9.一种故障检测设备，其特征在于，所述故障检测设备包括如权利要求1-7任一项所述的控制装置和显示装置，其中，所述控制装置与所述显示装置连接，

所述控制装置分别与第一待检测芯片和第二待检测芯片进行连接。