[实用新型]一种下双针弹性模块

说明书

本实用新型旨在提供一种结构简单、制造成本低、测试效果好、精度高并且能有效减少误测率的下双针弹性模块。本实用新型包括转接板、固定块、针块、连接器及若干个探针，所述连接器设于所述针块的底部上，所述针块适配安装在所述固定块上，所述固定块固装在所述转接板的底部，若干个所述探针的一端均与所述连接器相连接，若干个所述探针的另一端依次贯穿所述针块和所述固定块并与所述转接板相连接。本实用新型应用于电路板测试设备的技术领域。

技术领域

本实用新型涉及一种电路板测试设备的技术领域，特别涉及一种下双针弹性模块。

背景技术

在一般的电路板测试夹具中，通常B2B连接器的下针点规格为0.12mm*0.35mm，所以能用到的探针非常小，又因为下针的接触面是圆弧面，容易滑针，所以我们通常用到的下针模块会有因为滑针而导致的接触不良发生；另外，一般的DUT（被测产品，消费类电子产品主板）会有助焊剂，多次测试的下针模块容易脏污导致接触不良；而以上两点原因都会造成电路板测试的误测率上升。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种结构简单、制造成本低、测试效果好、精度高并且能有效减少误测率的下双针弹性模块。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括转接板、固定块、针块、连接器及若干个探针，所述连接器设于所述针块的底部上，所述针块适配安装在所述固定块上，所述固定块固装在所述转接板的底部，若干个所述探针的一端均与所述连接器相连接，若干个所述探针的另一端依次贯穿所述针块和所述固定块并与所述转接板相连接。

进一步地，若干个所述探针呈双排并列式均匀排布。

进一步地，一个优选方案是，所述针块包括针块上部和针块下部，所述固定块上设有与所述针块上部相适配的安装槽，所述针块上部设于所述安装槽上，所述针块下部伸出于所述固定块的下表面。

进一步地，所述针块上部与所述针块下部一体成型，并且所述针块的外型呈现T字型。

进一步地，所述连接器上设有与若干个所述探针一一对应的针点，所述转接板上设有与若干个所述探针一一对应的针孔，若干个所述探针的一端一一对应安装在所述针点上，所述探针的另一端一一对应安装在所述针孔上。

进一步地，所述固定块与所述转接板之间设有若干个弹簧，所述固定块上设有与若干个所述弹簧一一对应的第一安装孔，所述转接板上设有与若干个所述弹簧一一对应的第二安装孔，所述弹簧的一端安装在所述第一安装孔上，所述弹簧的另一端安装在所述第二安装孔上。

进一步地，所述转接板为柔性电路板。

本实用新型的有益效果：

通过若干个所述探针的设置，使得所述连接器上的所述针点与产品相接触，被测产品的数据经由所述探针传输，并最终通过所述转接板传输到外联电脑，从而完成产品的测试，其结构简单、测试效果好，本实用新型通过若干个所述探针呈双排并列式均匀排布的方式，增加了产品上的测试点和所述探针连接的所述针点的接触概率，减少了与产品的接触不良的情况，从而达到减少误测率的目的。

另外，所述针点与产品相接触的过程中，所述弹簧的设置，使得该接触过程为弹性接触，使得所述针点具有一定自调能力，避免与产品刚性接触而导致损坏产品。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的爆炸示意图；

图3是所述连接器与所述探针的结构示意图。

具体实施方式