[实用新型]用于光轴校准的光学系统有效

专利信息
申请号: 201922392960.8 申请日: 2019-12-26
公开(公告)号: CN211180429U 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 胡伟鹏 申请(专利权)人: 南昌欧菲晶润科技有限公司
主分类号: G02B27/62 分类号: G02B27/62
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 熊永强
地址: 330096 江西省南昌市南昌高新技*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 用于 光轴 校准 光学系统
【权利要求书】:

1.一种用于光轴校准的光学系统,用于校准摄像模组的光轴,其特征在于,包括光源、分光镜、第一反射镜、第二反射镜和检测组件,所述光源、所述分光镜和所述第一反射镜在第一直线上依次排布,所述光源朝向所述分光镜发射光束,所述第二反射镜与所述第一反射镜相对,所述检测组件与所述分光镜在第二直线上排布,所述第一直线与所述第二直线相交;

所述光源发出光束,所述光束透过所述分光镜形成第一光束,所述光束被所述分光镜反射形成第二光束;所述第一光束依次经所述第一反射镜和所述第二反射镜反射而进入所述摄像模组;所述第二光束进入所述检测组件,所述第一光束和所述第二光束具有唯一确定的对应关系;所述检测组件检测所述第二光束相对所述检测组件的光轴的角度,并根据所述第二光束与所述第一光束的对应关系,得到所述第一光束相对所述摄像模组的光轴的角度,调节所述光学系统使得所述第一光束的角度满足校准要求,设置所述摄像模组的光轴与所述第一光束重合以实现所述摄像模组的光轴校准。

2.如权利要求1所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,所述光源发射的所述光束的数量为多条,以使形成的所述第一光束和所述第二光束的数量为多条,多条所述第一光束在所述第一反射镜和所述第二反射镜处反射而形成预设角度向多个所述摄像模组发射,多条所述第一光束和多条所述第二光束具有一一对应关系,所述检测组件检测多条所述第二光束相对所述检测组件的光轴的角度,并根据多条所述第二光束与多条所述第一光束的一一对应关系,得到多条所述第一光束相对多个所述摄像模组的光轴的角度,调节所述光学系统使得多条所述第一光束满足校准要求,设置多个所述摄像模组的光轴与多条所述第一光束重合以实现多个所述摄像模组的光轴校准。

3.如权利要求2所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,多条所述第一光束经所述第一反射镜和所述第二反射镜反射后而互相平行或互相倾斜。

4.如权利要求1所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,进入所述摄像模组的所述第一光束与所述光源发出的光束之间的夹角为第一夹角,进入所述检测组件的所述第二光束与所述光源发出的光束之间的夹角为第二夹角,所述第一光束和所述第二光束的对应关系包括所述第一夹角和所述第二夹角的角度对应关系。

5.如权利要求1至4任一项所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,所述光学系统还包括机台,当所述检测组件通过检测所述第二光束,并根据所述第二光束与所述第一光束的对应关系而得到的所述第一光束相对所述摄像模组的光轴的角度符合校准要求时,所述机台调整所述摄像模组的位置,以使得所述摄像模组的光轴与所述第一光束重合。

6.如权利要求2或3任一项所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,所述检测组件包括沿所述第二直线依次设置的凸透镜和信息采集器,所述第二光束经所述凸透镜后聚焦于所述信息采集器,所述信息采集器用于采集所述第二光束的角度信息。

7.如权利要求6所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,所述凸透镜与所述信息采集器之间设有用于减弱光线强度的衰减片。

8.如权利要求1至4任一项所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,所述光源与所述分光镜之间设有光线集中器,所述光线集中器用于将所述光源发射的光束集中向外出射。

9.如权利要求8所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,所述光线集中器连接有进步电机,所述进步电机驱动所述光线集中器移动,以调整所述光线集中器出射的光束的角度。

10.如权利要求1至4任一项所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,所述第一反射镜为离轴高次双曲面反射镜,所述第二反射镜为离轴抛物面反射镜。

11.如权利要求1至4任一项所述的用于光轴校准的光学系统,其特征在于,所述光源发射的光束为紫外光、红外光、可见光的任意两种波长不同的混合光束,所述分光镜用于根据波长的范围,将所述混合光束分为波长不同的所述第一光束和所述第二光束。

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