[发明专利]测距传感器、检测传感器、测距方法和电子装置

说明书

提供了一种测距传感器(2)，包括：发光单元(110)，其向目标施加光；光接收单元(120)，其接收从目标反射的来自发光单元(110)的光；以及计算单元(150)，其基于由光接收单元(120)获取的光接收数据来计算从光接收单元(120)到目标的距离。所述计算单元(150)将检测光接收数据与预定数据进行比较，并且控制对用户的通知处理。其中，所述检测光接收数据是在光从发光单元(110)发射到设置在预定距离处的参考对象并且光接收单元(120)接收由参考对象反射的发光单元(110)的光时获得的。

技术领域

本公开涉及一种测距传感器、一种检测传感器、一种测距方法和一种电子装置。

背景技术

近年来，已经开发了用于各种传感器的各种技术。例如，专利文献1描述了测距传感器，并且公开了用于提高测距传感器的可靠性的技术。具体地，专利文献1公开了一种用于制造测距传感器并在工厂装运阶段检查传感器精度的技术。

引用列表

专利文献

专利文献1：日本专利申请公开号H3-29811

发明内容

技术问题

然而，在上述传感器中，当使用时，根据使用环境，可能发生老化劣化，并且传感器的精度可能降低。用户无法知道传感器在测量期间的老化劣化状态，或者不知道在使用环境下是否获得了准确的数据。鉴于上述情况，已经寻求开发一种技术，用于使用户能够适当地检查传感器的操作可靠性。

问题的解决方案

根据本公开，提供了一种测距传感器，包括：发光单元，其向目标施加光；光接收单元，其接收从目标反射的来自发光单元的光；以及计算单元，其基于由光接收单元获取的光接收数据来计算从光接收单元到目标的距离，其中，所述计算单元将检测光接收数据与预定数据进行比较，并且控制对用户的通知处理，其中，所述检测光接收数据是在光从发光单元发射到设置在预定距离处的参考对象并且光接收单元接收由参考对象反射的发光单元的光时而获得的。

此外，根据本公开，提供了一种检测传感器，包括：光接收单元，其接收来自外部的光；以及计算单元，其处理由光接收单元获取的光接收数据，其中，所述计算单元将检测光接收数据与预定数据进行比较，并且控制对用户的通知处理，其中，所述检测光接收数据是在所述光接收单元接收来自设置在预定距离处的参考对象的光时获得的。

此外，根据本公开，提供了一种测距方法，包括：向目标施加第一光；接收从目标反射的第一光；基于通过接收第一光而获取的光接收数据，计算从第一光的照射点到目标的距离；向设置在预定距离处的参考对象施加第二光；并且将检测光接收数据与预定数据进行比较，并且控制对用户的通知处理，其中，所述检测光接收数据是通过接收由参考对象反射的第二光来获取的。

此外，根据本公开，提供了一种电子装置，包括在使用时从外壳突出的测距传感器，所述测距传感器包括：发光单元，其被配置为向目标施加光；光接收单元，其被配置为接收从目标反射的来自发光单元的光；以及计算单元，其被配置为基于由光接收单元获取的光接收数据来计算从光接收单元到目标的距离，其中，所述计算单元将检测光接收数据与预定数据进行比较，并且控制对用户的通知处理，其中，所述检测光接收数据在光从发光单元发射到设置在预定距离处的外壳中的参考对象并且光接收单元接收由参考对象反射的发光单元的光时而获得的。

附图说明

图1是示出测距传感器的示例的示图；

图2是示出根据本公开的第一实施方式的检测传感器的示例的示图；

图3是示出根据第一实施方式的检测传感器的结构的示例的示图；

图4是示出根据第一实施方式的检测传感器的结构的示例的示图；

图5是示出根据第一实施方式的检测传感器的机构的示例的框图；