[发明专利]分析用阈值生成装置以及分析用阈值生成方法

权利要求书

1.一种分析用阈值生成装置，其特征在于，包括：

光拾取器，将照射光向分析用基板照射，接收通过所述照射光的来自所述分析用基板的反射光，并生成受光电平信号，所述分析用基板的表面上固定有检测对象物质和与所述检测对象物质结合的粒子；

阈值运算部，针对所述受光电平信号中包含的脉冲的脉冲宽度生成一对阈值，或者针对所述脉冲的脉冲振幅生成一对阈值；

脉冲判定部，判定所述脉冲宽度是否存在于针对脉冲宽度的一对阈值的范围内，或者判定所述脉冲振幅是否存在于针对脉冲振幅的一对阈值的范围内；

脉冲计数部，对由所述脉冲判定部判定为存在于所述生成的一对阈值的范围内的脉冲进行计数，并输出所述计数后的脉冲的计数值；以及

阈值校正部，基于所述阈值运算部生成的一对阈值和所述脉冲计数部输出的计数值，生成用于分析的一对阈值，

每当所述脉冲计数部对脉冲进行计数时，所述阈值运算部重复生成改变所述一对阈值中的至少一个阈值的新的一对阈值，直到达到预定值为止。

2.如权利要求1所述的分析用阈值生成装置，其中，

所述阈值校正部基于频数分布来生成用于所述分析的一对阈值，所述频数分布以所述生成的每一对阈值为等级，以所述脉冲计数部输出的所述计数值为频数。

3.如权利要求2所述的分析用阈值生成装置，其中，

所述阈值校正部基于所述频数分布取众数的等级的值，来生成用于所述分析的一对阈值。

4.如权利要求2所述的分析用阈值生成装置，其中，

所述频数分布是直方图，所述阈值校正部基于所述直方图的积分值来生成用于所述分析的一对阈值。

5.如权利要求1至4中任一项所述的分析用阈值生成装置，其中，

所述阈值校正部将用于所述分析的一对阈值与分析条件关联存储在存储部中。

6.一种分析用阈值生成方法，包括：

照射步骤，将照射光向分析用基板照射，所述分析用基板的表面上固定有检测对象物质和与所述检测对象物质结合的粒子；

信号生成步骤，接收通过所述照射光的来自所述分析用基板的反射光，并生成受光电平信号；

判定步骤，判定所述受光电平信号中包含的脉冲是否存在于针对脉冲宽度而设定的一对阈值的范围内，或者所述脉冲是否存在于针对脉冲振幅而设定的一对阈值的范围内；

计数值输出步骤，对在所述判定步骤中判定为存在于所述设定的一对阈值的范围内的脉冲进行计数，并输出所述计数后的脉冲的计数值；

第一阈值生成步骤，每当在所述计数值输出步骤中对脉冲进行计数时，重复生成改变所述一对阈值中的至少一个阈值的新的一对阈值，直到达到预定值为止；以及

第二阈值生成步骤，基于生成的每一对阈值和在所述计数值输出步骤中输出的计数值，来生成用于分析的一对阈值。