[发明专利]探针和检查工具在审
申请号: | 201980071406.X | 申请日: | 2019-10-23 |
公开(公告)号: | CN112955754A | 公开(公告)日: | 2021-06-11 |
发明(设计)人: | 笹野直哉;寺西宏真;酒井贵浩 | 申请(专利权)人: | 欧姆龙株式会社 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R1/073;H01R13/24 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 徐丹;邓毅 |
地址: | 日本国京*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探针 检查 工具 | ||
探针具备:弹性部,其能够沿着第一方向弹性变形;以及连接部,其设置于弹性部的第一方向的一端,能够连接电线的导体部。
技术领域
本公开涉及探针和检查工具。
背景技术
在电子部件模块中,通常在其制造工序中进行导通检查以及动作特性检查等。这些检查通过使用探针将用于与设置于电子部件模块的主体基板连接的端子和检查装置的端子连接来进行。
作为这样的探针,存在专利文献1所记载的探针。该探针具备:一对触头,它们能够分别与电子部件的电极端子以及被连接电子部件的电极端子接触;以及蜿蜒部,其介于一对触头之间而连接一对触头。在所述探针中,蜿蜒部沿着连结一对触头的排列方向伸缩,各触头沿着该排列方向往复移动。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2002-134202号公报
发明内容
发明所要解决的课题
但是,随着近年来的检查装置以及检查对象物的多样化,在检查装置以及检查对象物中,构成为经由电线的导体部与探针连接。
所述探针构成为,通过各触头在排列方向上与电磁部件的电极端子以及被连接电子部件的电极端子接触,从而使电磁部件与被连接电子部件连接。因此,例如在电磁部件和被连接电子部件中的一方或双方构成为如果不经由电线的导体部则无法与探针连接的情况下,若使用所述探针,则存在无法与电磁部件和被连接电子部件连接的情况。
本公开的目的在于,提供能够连接电线的导体部的探针以及具备该探针的检查工具。
用于解决课题的技术手段
本公开的一个例子的探针具备:弹性部,其能够沿第一方向弹性变形;以及连接部,其设置于所述弹性部的所述第一方向的一端,能够连接电线的导体部。
另外,本公开的一个例子的检查工具具备:所述探针;以及壳体,其具有收纳部,该收纳部以所述连接部露出到外部的方式收纳有所述探针。
发明效果
根据所述探针,具备:弹性部,其能够沿着第一方向弹性变形;以及连接部,其设置于该弹性部的第一方向的一端,能够连接电线的导体部。借助该连接部,能够实现能够连接电线的导体部的探针。
根据所述检查工具,即使构成为检查装置以及检查对象物中的一方或者双方不经由电线的导体部就无法连接,也能够借助所述探针实现能够连接检查装置以及检查对象物的检查工具。
附图说明
图1是表示本公开的第一实施方式的检查工具的立体图。
图2是沿着图1的II-II线的剖视图。
图3是表示本公开的第一实施方式的探针的立体图。
图4是图3的探针的俯视图。
图5是表示图1的检查工具的第一变形例的俯视图。
图6是表示图1的检查工具的第二变形例的俯视图。
图7是表示本公开的第二实施方式的检查工具的立体图。
图8是沿着图7的VIII-VIII线的剖视图。
图9是表示本公开的第二实施方式的探针的立体图。
图10是图9的探针的俯视图。
具体实施方式
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