[发明专利]光谱仪设备和用于制造光谱仪设备的方法在审
申请号: | 201980082495.8 | 申请日: | 2019-12-06 |
公开(公告)号: | CN113196021A | 公开(公告)日: | 2021-07-30 |
发明(设计)人: | R·诺特迈耶;M·胡思尼克;E·鲍姆加特;M·施米德;R·勒德尔;B·斯坦;C·谢林;C·D·克莱默 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01J3/02 | 分类号: | G01J3/02;G01J3/26;G01J3/32 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 姬亚东;刘春元 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱仪 设备 用于 制造 方法 | ||
1.一种光谱仪设备(1a;1b;1c;1d),其具有:
光学干涉滤光器(2),所述光学干涉滤光器被构造为:在入射光线(L)穿过所述光学干涉滤光器(2)时对所述入射光线的特定的波长范围进行滤波;
探测装置(3),所述探测装置被构造为探测经滤波的光线(L);和
聚焦装置(4a;4c),所述聚焦装置具有反射表面(5),其中所述聚焦装置(4a;4c)被构造为:通过在所述表面(5)上的反射来使所述经滤波的光线(L)聚焦到所述探测装置(3)上。
2.根据权利要求1所述的光谱仪设备(1a;1b;1c;1d),其中所述探测装置(3)在所述干涉滤光器(2)的光出射侧集成到所述干涉滤光器(2)中或者直接或间接布置在所述干涉滤光器(2)上。
3.根据权利要求1或2所述的光谱仪设备(1a;1b),其中所述探测装置(3)与延伸经过所述光学干涉滤光器(2)的中心的轴线(A)至少部分地重叠。
4.根据上述权利要求中任一项所述的光谱仪设备(1a;1b;1c;1d),所述光谱仪设备具有载体装置(6a;6b;6c;6d),其中所述光学干涉滤光器(2)、所述探测装置(3)和所述聚焦装置(4a;4c)直接或间接布置在所述载体装置(6a;6b;6c;6d)上。
5.根据权利要求4所述的光谱仪设备(1c;1d),其中所述探测装置(3)在所述光学干涉滤光器(2)的光出射侧与所述干涉滤光器(2)相邻地布置在所述载体装置(6c;6d)上。
6.根据权利要求4或5所述的光谱仪设备(1b),其中所述载体装置(6b)包括至少一个间隔元件(7),所述至少一个间隔元件将所述聚焦装置(4a)与所述光学干涉滤光器(2)连接并且使所述聚焦装置与所述光学干涉滤光器彼此间隔开,其中所述至少一个间隔元件(7)至少局部具有吸收性涂层。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的光谱仪设备(1a;1b;1c;1d),其中所述探测装置(3)的表面部段和/或所述干涉滤光器(2)和/或所述载体装置(6a;6b;6c;6d)的与所述探测装置(3)相邻的表面部段至少局部具有吸收性涂层。
8.根据上述权利要求中任一项所述的光谱仪设备(1a;1b;1c;1d),其中所述探测装置(3)具有环形探测器、分段的探测元件和/或阵列形布置的探测元件。
9.根据上述权利要求中任一项所述的光谱仪设备(1a;1b;1c;1d),其中所述探测装置(3)具有至少两个堆叠的探测元件,所述探测元件对不同的波长范围敏感。
10.根据上述权利要求中任一项所述的光谱仪设备(1a;1b;1c;1d),其中所述光学干涉滤光器(2)构造成法布里-珀罗干涉滤光器。
11.一种用于制造光谱仪设备(1a;1b;1c;1d)的方法,所述方法具有如下步骤:
提供(S1)光学干涉滤光器(2),所述光学干涉滤光器被构造为:在入射光线(L)穿过所述光学干涉滤光器(2)时对所述入射光线的特定的波长范围进行滤波;
提供(S2)探测装置(3),所述探测装置被构造为探测经滤波的光线(L);而且
提供(S3)聚焦装置(4a;4c),所述聚焦装置具有反射表面(5),其中所述聚焦装置(4a;4c)、所述探测装置(3)和所述光学干涉滤光器(2)相对于彼此被布置为使得所述聚焦装置(4a;4c)能够将所述经滤波的光线(L)聚焦到所述探测装置(3)上。
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