[发明专利]基于存储器子系统的损耗的错误校正码改变在审
申请号: | 201980089953.0 | 申请日: | 2019-12-20 |
公开(公告)号: | CN113366449A | 公开(公告)日: | 2021-09-07 |
发明(设计)人: | 谢廷俊;戴颖煜;J·朱 | 申请(专利权)人: | 美光科技公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 王龙 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 存储器 子系统 损耗 错误 校正 改变 | ||
1.一种方法,其包括:
在存储器子系统处接收数据;
确定所述存储器子系统的使用特性;
对所接收数据进行编码以产生具有多个校验位的码字;
通过处理装置基于所述存储器子系统的所述使用特性而移除所产生码字的所述多个校验位的一部分;以及
存储不含所述多个校验位的所移除部分的所述码字。
2.根据权利要求1所述的方法,其中对所述所接收数据进行所述编码以产生具有所述多个校验位的所述码字是基于极化编码器。
3.根据权利要求1所述的方法,其中所述使用特性对应于所述存储器子系统的写入计数,且其中移除所述多个校验位的所述部分包括:
确定所述存储器子系统的所述写入计数是否满足与阈值数目个写入计数相关联的阈值条件;以及
响应于所述存储器子系统的所述写入计数满足与所述阈值数目个写入计数相关联的所述阈值条件而移除所述所产生码字的所述多个校验位的减少的部分,且响应于所述存储器子系统的所述写入计数不满足与所述阈值数目个写入计数相关联的所述阈值条件而移除所述所产生码字的所述多个校验位的增加的部分,且其中所述减少的部分包含的位少于所述增加的部分。
4.根据权利要求3所述的方法,其中所述移除所述多个校验位的所述减少的部分对应于所存储的所述码字的校验位多于所存储的不含所述多个校验位的所述增加的部分的所述码字。
5.根据权利要求1所述的方法,其中所述使用特性对应于所述存储器子系统的工作寿命,且其中移除所述多个校验位的所述部分包括:
确定所述存储器子系统的所述工作寿命是否满足阈值条件;
响应于所述存储器子系统的所述工作寿命满足所述阈值条件而移除所述所产生码字的所述多个校验位的减少的部分,且响应于所述存储器子系统的所述工作寿命不满足所述阈值条件而移除所述所产生码字的所述多个校验位的增加的部分,且其中所述减少的部分包含的位少于所述增加的部分。
6.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括:
从主机系统接收针对所述数据的请求;
检索所存储的不含所述多个校验位的所述所移除部分的所述码字;
重构所述多个校验位的所述所移除部分;以及
对具有经重构校验位的所述码字进行解码。
7.根据权利要求6所述的方法,其中对具有所述经重构校验位的所述码字进行所述解码是基于极化解码器。
8.一种系统,其包括:
存储器组件;以及
处理装置,其与所述存储器组件操作性地耦合以进行以下操作:
接收待存储于所述系统处的数据;
对所接收数据进行编码以产生具有多个校验位的码字;
从所述码字移除所述多个校验位的一部分;
存储不含所述多个校验位的所述部分的所述码字;
确定与所述系统相关联的条件已改变;
接收待存储于所述系统处的后续数据;
对所述后续数据进行编码以产生具有所述多个校验位的另一码字;
从所述另一码字移除所述多个校验位的减少的部分,其中所述多个校验位的所述减少的部分对应于所移除的校验位少于所存储码字的所述多个校验位的所述部分;以及
存储不含所述多个校验位的所述减少的部分的所述另一码字。
9.根据权利要求8所述的系统,其中对所述所接收数据进行所述编码以产生所述码字,且对所述后续数据进行所述编码以产生所述另一码字是基于极化编码器。
10.根据权利要求8所述的系统,其中所述存储器子系统的改变的所述条件对应于所述存储器子系统的写入计数满足与阈值数目个写入计数相关联的阈值条件,或位错误条件满足与阈值数目个位错误相关联的另一阈值条件。
11.根据权利要求10所述的系统,其中响应于所述存储器子系统的所述写入计数增加,将后续码字与所述多个校验位的额外校验位一起存储。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司,未经美光科技公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980089953.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。