[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202010264931.8 申请日: 2020-04-07
公开(公告)号: CN111816648A 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 今西元纪 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L23/495
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,其具有:

高电位侧开关元件及低电位侧开关元件,它们构成逆变器;

初级侧IC芯片,其输出与输入信号对应的电信号;

第1次级侧IC芯片,其基于所述电信号对所述高电位侧开关元件进行驱动;以及

第2次级侧IC芯片,其基于所述电信号对所述低电位侧开关元件进行驱动,

所述初级侧IC芯片包含与所述第1次级侧IC芯片及所述第2次级侧IC芯片电绝缘的绝缘元件,

所述第1次级侧IC芯片堆叠于所述高电位侧开关元件之上,

所述第2次级侧IC芯片堆叠于所述低电位侧开关元件之上。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,

所述第1次级侧IC芯片堆叠于所述高电位侧开关元件的发射极电极之上,

所述第2次级侧IC芯片堆叠于所述低电位侧开关元件的发射极电极之上。

3.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,

还具有自举二极管,该自举二极管的阳极与连接于所述初级侧IC芯片的电源电极的电源连接,并且阴极与所述第1次级侧IC芯片及所述第2次级侧IC芯片的电源电极连接,

所述自举二极管向所述第1次级侧IC芯片及所述第2次级侧IC芯片的所述电源电极供给来自所述电源的电流。

4.根据权利要求1所述的半导体装置,其中,

在所述第1次级侧IC芯片及所述第2次级侧IC芯片内置温度感测二极管。

5.根据权利要求4所述的半导体装置,其中,

所述高电位侧开关元件及所述低电位侧开关元件为SiC元件。

6.根据权利要求4所述的半导体装置,其中,

所述高电位侧开关元件及所述低电位侧开关元件为GaN元件。

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