[发明专利]双源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置

权利要求书

1.双源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，其特征在于，包括第一X射线源(2)、第一探测器(4)、第一准直器(5)、样品放置台(6)、测角仪(7)、第二准直器(9)、第二探测器(10)、第二X射线源(11)和计算机控制系统；

所述第一X射线源(2)和第二探测器(10)的中心位于同一轴线位置；

所述第一X射线源(2)和第二X射线源(11)位置相互垂直；

所述样品放置台(6)设置在侧脚仪(5)上并与测角仪其中一个转动轴承连接，用于放置待测样品，并带动待测样品做360°的转动，使得第一X射线源(2)和第二X射线源(11)发射的X射线充分照射到待测样品上；

所述第二探测器(10)用于待测样品转动时，间隔特定的角度采集待测样品的投影数据；

所述计算机控制系统用于对投影数据进行图像冲减，确定夹杂物的位置；

所述第一探测器(4)通过连接架(3)与测角仪(7)的另一个转动轴承连接，用于确定夹杂物位置后，将其转动，从而记录衍射信号的位置和强度，并最终由计算机控制系统处理衍射信号得到待测样品的材料物相信息；

所述第一准直器(5)设置在第一探测器(4)旁；所述第二准直器(9)设置在第二X射线源(11)旁。

2.根据权利要求1所述的双源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，其特征在于，所述第一X射线源(2)和第二X射线源(11)均为X射线管、激光等离子体光源、回旋加速器光源、直线加速器光源或同步辐射光源。

3.根据权利要求1所述的双源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，其特征在于，所述第一准直器(5)和第二准直器(9)的内部准直截面形状为狭缝、圆孔或者方孔。

4.根据权利要求3所述的双源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，其特征在于，所述第一准直器(5)和第二准直器(9)的数量均大于1。

5.根据权利要求1所述的双源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，其特征在于，所述第一探测器(4)和第二探测器(10)均为点探测器、线阵探测器或面阵探测器。

6.根据权利要求1～5任一项所述的双源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，其特征在于，还包括机械平台(1)，所述第一X射线源(2)、测角仪(7)、第二探测器(10)和第二X射线源(11)均安装在该机械平台(1)上。

7.根据权利要求6所述的双源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，其特征在于，所述机械平台(1)为框架类型或板台类型。

8.根据权利要求1～7任一项所述的双源角度分辨式X射线衍射分析与断层成像耦合装置，其特征在于，所述第二探测器(10)每隔1°采集待测样品的投影数据。