[发明专利]一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后饱和灰度值评估方法

权利要求书

1.一种基于通道分离的大面阵彩色CMOS图像传感器辐照后饱和灰度值评估方法，其特征在于，该方法涉及装置是由静电试验平台、积分球光源、三维样品调整台、样品测试板、大面阵彩色CMOS图像传感器样品、直流电源和计算机组成，在静电试验平台（1）上设有积分球光源（2）和三维样品调整台（3），在三维样品调整台（3）上固定有样品测试板（4），在样品测试板（4）上放置大面阵彩色CMOS图像传感器样品（5），样品测试板（4）与直流电源（6）连接，静电试验平台（1）与计算机（7）连接，具体操作按下列步骤进行：

a、打开积分球光源（2），并关闭测试室中其他照明光源；

b、利用三维样品调整台（3）将辐照到固定累积剂量的大面阵彩色CMOS图像传感器样品（5）调整到正对积分球光源（2）的出光口；

c、设定积分球光源（2）为固定光强，在计算机（7）上由小至大调整积分时间，使输出图像由黑至最亮，在此过程中选取六个积分时间进行测试，每个积分时间采集10帧RAW格式图像并保存；

d、将步骤c中采集的每个积分时间下RAW格式图像每个像素的16位2进制数据读出；

e、将步骤d读出的每个像素的16位2进制数据转换为10进制数据，10进制数据即为该像素的灰度值；

f、将四组为循环单元的横坐标2m，纵坐标2n；横坐标2m+1，纵坐标2n；横坐标2m，纵坐标2n+1；横坐标2m+1，纵坐标2n+1的像素单元的灰度值分别依次读入R、GB、GR或B通道的灰度值矩阵中，其中m=0,1,2…M，n=0,1,2…N ，M为大面阵彩色CMOS图像传感器像素阵列的宽度，N为大面阵彩色CMOS图像传感器像素阵列的高度；

g、分别计算R、GB、GR、B通道所有像素在不同积分时间下的平均灰度值，画出R、GB、GR或B通道所有像素的平均灰度值随积分时间变化的曲线，根据曲线得到饱和灰度值；

h、将大面阵彩色CMOS图像传感器样品（5）取下再放到钴源环境下辐照，直到达到指定累积剂量后取出，利用三维样品调整台（3）将其调整到正对积分球光源（2）的出光口，重复步骤c-步骤g，得到辐照至不同累积剂量大面阵彩色CMOS图像传感器R、GB、GR或B通道所有像素的平均灰度值随积分时间变化的曲线，根据曲线得到不同累积剂量下大面阵彩色CMOS图像传感器R、GB、GR或B通道的饱和灰度值。