[发明专利]一种无损检测片状金属磁粉磁导率的方法及装置

权利要求书

1.一种无损检测片状金属磁粉磁导率的装置，其特征在于：

包括制样单元和检测单元，所述制样单元包括振动发生装置、支架、磁性件和非磁性材质的模具；

所述支架安装在所述振动发生装置上并位于所述振动发生装置的上方；

所述支架包括支架台板和台板支撑件，所述支架台板通过所述台板支撑件连接所述振动发生装置，所述支架台板的表面开设有磁性件插孔和模具插孔；

所述磁性件具有磁性件内腔，所述模具具有样品容置腔；

在工作状态下：

所述模具插设于所述模具插孔，且所述模具的底部抵靠所述振动发生装置，

或，

所述模具置入所述磁性件内腔，且所述磁性件插设于所述磁性件插孔，且所述磁性件的底部抵靠所述振动发生装置。

2.一种利用如权利要求1所述无损检测片状金属磁粉磁导率的装置检测无损检测片状金属磁粉磁导率的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1.制样步骤：采用所述制样单元对待测的片状金属磁粉进行制样，将所述片状金属磁粉置于所述样品容置腔中，然后将模具安装在所述支架上，接着启动所述振动发生装置以及利用所述磁性件提供磁场，以使所述片状金属磁粉经历磁场取向和振动压实，成型为平行排列的有序待测体；

S2.测试步骤：对所述有序待测体进行电磁特性测试，直接测得磁导率，或，通过换算间接得出磁导率。

3.如权利要求2所述方法，其特征在于：在所述制样步骤中，所述磁场取向与所述振动压实交替进行。

4.如权利要求2所述方法，其特征在于：在所述制样步骤中，所述磁场取向与所述振动压实同时进行，在磁场中，振动所述片状金属磁粉。

5.如权利要求4所述方法，其特征在于：所述磁场方向平行于所述片状金属磁粉的振动方向。

6.如权利要求5所述方法，其特征在于：在所述制样步骤中，沿竖直方向上下振动所述片状金属磁粉。

7.如权利要求6所述方法，其特征在于：所述磁场方向为竖直方向，磁场的梯度方向为竖直向下方向。

8.如权利要求2～4任一项所述方法，其特征在于：所述片状金属磁粉的粒度为D₅₀，所述有序待测体的堆积密度为TD，TD/D₅₀＝80–1600g/cm⁴。

9.如权利要求2～4任一项所述方法，其特征在于：使所述片状金属磁粉在磁场强度为0.01–1.0T的磁场中进行所述磁场取向。

10.如权利要求2～4任一项所述方法，其特征在于：在所述振动压实的过程中，所述片状金属磁粉的振动频率为100–300次/分钟。